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          行業(yè)產(chǎn)品

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          新耕(上海)貿(mào)易有限公司


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          iMicro納米壓痕儀

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          更新時間:2022-10-12 15:50:42瀏覽次數(shù):184次

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          經(jīng)營模式:其他

          商鋪產(chǎn)品:3條

          所在地區(qū):

          產(chǎn)品簡介

          iMicro納米壓痕儀

          詳細介紹

          產(chǎn)品描述

          iMicro采用InForce 1000驅(qū)動器進行納米壓痕和通用納米機械測試,并可選擇添加InForce 50驅(qū)動器來測試較軟的材料。InView軟件是一個靈活的現(xiàn)代軟件包,可以輕松進行納米級測試。iMicro是內(nèi)置高速InQuest控制器和隔振門架的緊湊平臺。 可以測試金屬、陶瓷、復合材料、薄膜、涂層、聚合物、生物材料和凝膠等各種不同的材料和器件。

          主要功能

          • 1.InForce 1000驅(qū)動器,用于電容位移測量,并配有電磁啟動的可互換探頭
          • 2.可選的InForce 50驅(qū)動器提供50mN的法向力來測量軟性材料,并提供可選的Gemini 2D力荷載傳感器用于雙軸動態(tài)測量。的軟件集成探頭校準系統(tǒng),可實現(xiàn)快速準確的探頭校準
          • 3.InQuest高速控制器電子設備,具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時間常數(shù)
          • 4.XY移動系統(tǒng)以及易于安裝的磁性樣品架
          • 5.高剛度龍門架,集成隔振功能
          • 6.帶數(shù)字變焦的集成顯微鏡,可實現(xiàn)精確的壓痕定位
          • 7.ISO 14577和標準化測試方法
          • 8.InView軟件包,包含RunTest、ReviewData、InFocus報告、InView大學在線培訓和InView移動應用程序

          主要應用

          • 1.硬度和模量測量(Oliver Pharr)
          • 2.高速材料性質(zhì)分布
          • 3.ISO 14577硬度測試
          • 4.聚合物tan delta,儲存和損耗模量
          • 5.定量刮擦和磨損測試
          • 6.樣品加熱

          工業(yè)應用

          • 1.大學、研究實驗室和研究所
          • 2.半導體行業(yè)
          • 3.PVD / CVD硬涂層(DLC,TiN)
          • 4.MEMS(微機電系統(tǒng))/納米級通用測試
          • 5.陶瓷和玻璃
          • 6.金屬和合金
          • 7.制藥
          • 8.涂料和油漆
          • 9.復合材料
          • 10.電池和儲能
          • 11.汽車和航空航天

          連續(xù)剛度測量 (CSM)

          連續(xù)剛度測量用于量化動態(tài)材料特性,例如應變率和頻率引起的影響。CSM技術(shù)采用在壓痕期間振蕩壓頭以測量隨深度、力荷載、時間或頻率而變化的特性。 該選項包括恒定應變率實驗,該實驗測量硬度和模量與深度或載荷的函數(shù)關系,這是學術(shù)界和工業(yè)界的測試方法。 CSM還可用于其他高級測量選項,包括用于存儲和損耗模量測量的ProbeDMA™方法和與基板無關的測量方法AccuFilm™。CSM功能集成在InQuest控制器和InView軟件中,易于使用并且保證數(shù)據(jù)質(zhì)量。

          InForce 50 驅(qū)動器

          InForce 50驅(qū)動器采用高達50mN的力度進行納米力學測試。電磁力技術(shù)應用可確保穩(wěn)定的測量和力荷載與位移的長期穩(wěn)定性。行業(yè)的機械設計確保諧波運動受限于一個自由度,從而力荷載和位移可控制在一個軸向。InForce 50驅(qū)動器與CSM、NanoBlitz、ProbeDMA、生物材料、樣品加熱、劃痕、磨損和ISO 14577等測試選項兼容。整個系列的InForce和Gemini驅(qū)動器的壓頭都可以互換。

          Gemini 雙軸驅(qū)動器

          Gemini雙軸技術(shù)為第二個橫軸提供了標準壓痕性能,并且采用CSM同時沿兩個軸運行。該技術(shù)所增加的信息有助于深入了解材料特性和失效機理。二維傳感器是測量橫向力和摩擦測量所必須的,并能夠用于測量泊松比、摩擦系數(shù)、劃痕、磨損、剪切和拓撲。

          300°C樣品加熱

          300°C樣品加熱選項允許將樣品放入工作室中進行均勻加熱的同時使用InForce 50驅(qū)動器進行測試。該選項包括高精度溫度控制、惰性氣體回填以減少氧化,以及冷卻以去除廢熱。 ProbeDMA,AccuFilm,NanoBlitz和CSM均與樣品加熱選項兼容。

          NanoBlitz 3D

          NanoBlitz 3D利用InForce 50驅(qū)動器和Berkovich壓頭繪制高E(> 3GPa)材料的納米力學性質(zhì)的3D分布。NanoBlitz以每個壓痕<1s實現(xiàn)多達100,000個壓痕(300x300陣列),并對陣列中的每個壓痕在負載下測量楊氏模量(E)、硬度(H)和剛度(S)值。大量的測試數(shù)據(jù)能夠提高統(tǒng)計的準確性。直方圖顯示多個階段或材料。NanoBlitz 3D方法包具有可視化和數(shù)據(jù)處理功能。

          NanoBlitz 4D

          NanoBlitz 4D利用InForce 50驅(qū)動器和Berkovich壓頭為低E/H和高E(> 3GPa)材料繪制4D納米機械特性的分布。NanoBlitz以每次壓縮5-10s進行多達10,000個壓痕(30x30陣列)測試,并以每個壓痕的深度為函數(shù)對楊氏模量(E)、硬度(H)和剛度(S)進行測量。 NanoBlitz 4D采用恒定應變率方法。該功能包具備可視化和數(shù)據(jù)處理功能。

          AccuFilm™薄膜方法組合

          AccuFilm薄膜方法組合是一種基于Hay-Crawford模型的InView測試方法,采用連續(xù)剛度測量(CSM)對基板無關的材料特性進行測量。AccuFilm對軟基板上硬性薄膜測量進行基板材質(zhì)的影響的校正,也對硬基板上的軟性薄膜進行同類的校正。

          ProbeDMA? Polymer Method Pack" class="long-img reset" src="" width="99%" />

          ProbeDMA 聚合物方法組合

          聚合物包提供了對聚合物的復數(shù)模量作為頻率的函數(shù)進行測量的能力。該包裝包括平?jīng)_頭、粘彈性參考材料和用于評估粘彈性的測試方法。傳統(tǒng)動態(tài)力學分析(DMA)測試儀器無法很好地表征的納米級聚合物和聚合物薄膜,而這種技術(shù)是對其進行表征的關鍵。

          生物材料方法組合

          生物材料方法組合采用約為1kPa的剪切模量以及連續(xù)剛度測量(CSM)提供了測量生物材料的復數(shù)模量的能力。該選項包括平?jīng)_頭和用于評估粘彈性的測試方法。對于傳統(tǒng)流變儀無法測量的的小規(guī)模生物材料,這種測量技術(shù)對其表征十分關鍵。

          劃痕和磨損測試方法組合

          劃痕測試在以速度在樣品表面上移動時對壓頭施加恒定或斜坡載荷。劃痕測試允許表征薄膜、脆性陶瓷和聚合物等在內(nèi)的很多材料。

          DataBurst

          DataBurst 功能使配備InView軟件和InQuest控制器的系統(tǒng)能夠以> 1kHz的速率記錄位移數(shù)據(jù),用于測量高應變階躍負載、彈出和其他高速事件。配備用戶方法開發(fā)選項的iMicro系統(tǒng)也可以對使用DataBurst的方法進行修改。

          針對InView控制軟件的用戶方法開發(fā)

          InView是一個功能強大、直觀的實驗腳本平臺,可用于設計新穎或復雜的實驗。 經(jīng)驗豐富的用戶使用配備InView選項的iMicro系統(tǒng)設置幾乎可以進行所有小規(guī)模機械測試。

          采用模塊機架系統(tǒng)的主動隔振

          可選用的高性能主動隔振系統(tǒng)為iMicro納米壓痕儀其內(nèi)置隔振裝置的基礎上提供額外的隔振功能。該系統(tǒng)易于安裝并可在所有六個自由度上減少振動,無需調(diào)試。 模塊化機架系統(tǒng)將所有組件囊括在集成機架內(nèi)以方便使用。

          True Test I-V電氣測量

          采用InView軟件控制,iMicro 納米壓痕儀的True Test I-V選項是使用精密電流表和電壓源、通過壓頭電路和導電壓頭。 該設計幫助用戶對樣品施加特定電壓,測量壓頭處的電流,且同時操作InForce 50或InForce 1000驅(qū)動器。

          線性光學編碼器

          iMicro的線性光學編碼器(LOE)選項集成在X和Y移動平臺中,可提高測試工藝的位置精度和產(chǎn)量。

          壓頭和校準樣品

          InForce 50、InForce 1000和Gemini驅(qū)動器采用可互換的壓頭。系統(tǒng)配有有各種各樣的尖銳壓頭,如Berkovich、立方角和維氏,以及平面沖頭、球形沖頭和其他幾何形狀。整個產(chǎn)品系列也提供標準參考材料和校準標準。

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