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詳細摘要： Hot Disk的測量原理是基于Silas Gustafsson博士發(fā)明的瞬變平面熱源法（Transient Plane Source Method、TPS）。

詳細摘要： 差熱熱量分析儀DSC6220可用于測量材料的熔點、玻璃化溫度、結(jié)晶度、固化度、純度、比熱、反應(yīng)動力學(xué)、熱穩(wěn)定性、相轉(zhuǎn)變溫度等參數(shù)。

詳細摘要： 動態(tài)機械分析儀對固體試樣施以彎曲、拉伸、剪切等變形，然后根據(jù)其變形量以及反應(yīng)延遲計算試樣的彈性模量。能靈敏地檢測到一般熱分析方法無法捕捉的高分子材料的局部松弛等...

詳細摘要： 離子色譜儀目前為電工協(xié)會(IEC)所分析無鹵素材料(Halogen Free)的認可分析儀器。亦可添加部份配件，做全氟辛烷硫磺酸(PFOA/S)等分析，以節(jié)省設(shè)...

詳細摘要： 全新機型SEA1000AⅡ系列XRF無需液態(tài)氮的成本、無需增加工作量的分析裝置，可以省去繁瑣的樣品檢測前處理時間，以提供更簡便、迅速的分析。如需了解更多，：

詳細摘要： SEA1000系列XRF是Z、Z穩(wěn)定的桌上型電子式冷卻XRF設(shè)備，已廣泛被運用在RoHS/WEEE的風(fēng)險管控，已獲各電子、電機大廠使用，符合SONY STM-0...

詳細摘要： SEA1000A系列ED－XRF，無需液態(tài)氮的成本、無需增加工作量的分析裝置，可以省去繁瑣的樣品檢測前處理時間，以提供更簡便、迅速的分析。如需了解更多，：

詳細摘要： SEA1200VX桌上型X射線熒光分析儀凝聚了Z*技術(shù)，適用于WEEE&RoHS、ELV分析及其他專業(yè)分析的能量色散型如需了解更多，：

詳細摘要： Alpha8800是目前提供體積Z小、識別速度Z快、功能Z多、精度Z高，不需要做前處理，即可直接對原始樣品進行檢測，除了RoHS有害重金屬元素的檢測之外，還可以...

詳細摘要： Alpha6500是應(yīng)用Z為廣泛的便攜式檢測設(shè)備，非常適合做進料的快速初步篩選、模擬海關(guān)檢驗方式做成品出貨檢測、產(chǎn)線巡檢、供應(yīng)商稽核等，受到各大制造廠商及檢測機...

詳細摘要： *采用*真空方式的手持式能量射散X射線熒光分析儀，能在6秒內(nèi)達到100bar以下的真空度，立即可以與真空幫浦分離，不需要隨時接上真空幫浦，真空度可維持4-8小時...

詳細摘要： SFT9100X射線熒光厚度測理儀適用于各種樣品，從較厚的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等

詳細摘要： SFT9200系列作為SFT系列的新產(chǎn)品，不僅承繼了其操作性和依賴性并存的傳統(tǒng)，而且又得到進一步深化改良，成為應(yīng)用更加廣泛的熒光X射線鍍層厚度測量的"新標準儀器...