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          思耐達精密儀器(上海)有限公司


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          日立 熱場式場發(fā)射掃描電鏡 SU5000

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          產品型號

          品       牌

          廠商性質其他

          所  在  地上海市

          聯(lián)系方式:李經理查看聯(lián)系方式

          更新時間:2024-03-23 20:32:44瀏覽次數(shù):201次

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          經營模式:其他

          商鋪產品:31條

          所在地區(qū):

          聯(lián)系人:李經理

          產品簡介

          產品介紹 創(chuàng)新的“EM Wizard"界面更加直觀,僅需要“點擊"即可得到的圖像。 超前的電腦輔助技術將電鏡的操作與控制提升到一個新水平。

          詳細介紹

          熱場式場發(fā)射掃描電鏡 SU5000_看圖王.web.jpg


          產品介紹:


          創(chuàng)新的“EM Wizard"界面更加直觀,僅需要“點擊"即可得到的圖像。
          超前的電腦輔助技術將電鏡的操作與控制提升到一個新水平。


          產品特點:


          高性能電子光學系統(tǒng)



          • 二次電子分辨率: 頂位二次電子探測器(2.0 nm at 1kV)*

          • 高靈敏度: 高效PD-BSD, 的低加速電壓性能,低至100 V成像

          • 大束流(>200 nA): 便于高效微區(qū)分析

          性能優(yōu)異:


          • 壓力可變: 具有優(yōu)異的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配備高靈敏度低真空探測器(UVD)*

          • 開倉室快速簡單換樣(樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)

          • 微區(qū)分析: EDS, WDS, EBSD等等

          產品規(guī)格:


          項目內容
          分辨率1.2nm @ 30 kV
          3.0nm @ 1 kV
          2.0nm @ 1 kV 減速模式*1
          3.0nm @ 15 kV 低真空模式*2
          放大倍率10 -600,000×(底片倍率),18-1,000,000×(800×600 像素)
          30-1,500,000×(1,280×960像素)
          電子光學系統(tǒng)電子槍ZrO/W 肖特基式電子槍
          加速電壓0.5-30kV(0.1kV步進)
          著陸電壓減速模式:0.1-2.0kV*1
          束流>200 nA
          探測器低位二次電子探測器
          低真空模式*2真空范圍:10-300Pa
          馬達臺
          馬達臺控制5-軸自動(優(yōu)中心)
          可動范圍
          X:0~100mm
          Y:0 ~ 50mm
          Z:3 ~ 65mm
          T:-20 ~ 90°
          R:360°
          樣品尺寸直徑:200mm
          高度:80mm
          選配探測器
          • 高分辨率頂位二次電子探測器*1

          • 高靈敏度低真空探測器 (UVD)

          • 5分割半導體探測器 (PD-BSD)*3

          • 能譜儀 (EDS)

          • 波譜儀 (WDS)

          • 背散射電子衍射探測器 (EBSD)


          *1:減速功能(包含高分辨率頂位二次電子探測器)
          *2:低真空功能(包含5分割半導體探測器)

          *3:空壓機(本地采購)


          應用實例:



          樣品: 氧化鋅粉末
          著陸電壓: 1 kV ; 倍率: 120,000x
          低電壓下頂位二次電子探測器成像



          樣品: PTFE
          加速電壓: 3 kV ; 倍率: 13,000x
          UVD探測器可在低加速電壓(3 kV)和低真空
          (40 Pa) 下獲得高質量圖像


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