當(dāng)前位置：思耐達(dá)精密儀器（上海）有限公司>>>>日立球差場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000

日立球差場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000

返回列表頁

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：李經(jīng)理查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2023-06-06 09:28:12瀏覽次數(shù)：218次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自智能制造網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

暫無信息

思耐達(dá)精密儀器（上海）有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：其他

商鋪產(chǎn)品：31條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：李經(jīng)理

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品介紹 200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能通過單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700"的球面像差校正器的功能、自動(dòng)校正功能，像差校正后的SEM圖像和對(duì)稱Dual SDD技術(shù)等特點(diǎn)。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術(shù)。對(duì)于包括......

詳細(xì)介紹

em-hf5000_main.webp.jpg

產(chǎn)品介紹：

200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能

通過單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。

透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700"的球面像差校正器的功能、自動(dòng)校正功能，像差校正后的SEM圖像和對(duì)稱Dual SDD技術(shù)等特點(diǎn)。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術(shù)。

對(duì)于包括用戶在內(nèi)的廣泛用戶，我們提供亞?級(jí)空間分辨率和高分析性能以及更多樣化的觀察和分析方法。

※ 附帶第二顯示器（可選），顯示屏為嵌入式合成界面。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器（附自動(dòng)校正功能）

2、搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場(chǎng)FE電子槍

3、鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升

4、觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時(shí)觀察原子分辨率SE圖像

5、采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺(tái)結(jié)構(gòu)以及樣品桿

6、支持高立體角EDX*的對(duì)稱配置（對(duì)稱Dual SDD*）

7、采用全新構(gòu)造的機(jī)體外殼蓋

8、配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿*

* 選項(xiàng)

高輝度冷場(chǎng)FE電子槍×高穩(wěn)定性×日立制球面像差校正器

以長(zhǎng)年積累起來的高輝度冷場(chǎng)FE電子源技術(shù)為基礎(chǔ)，進(jìn)行優(yōu)化，進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)電子槍的高度穩(wěn)定性。

此外，還更新了鏡體，電源系統(tǒng)和樣品臺(tái)，以支持觀察亞?圖像，并提升了機(jī)械和電氣穩(wěn)定性，然后與日立公司的球差校正器結(jié)合使用。

不僅可以穩(wěn)定地獲得更高亮度更精密的探頭，而且自動(dòng)像差校正功能可以實(shí)現(xiàn)快速校正，從而易于發(fā)揮設(shè)備的固有性能。使像差校正可以更實(shí)用。

Si（211）單晶體HAADF-STEM圖像（左）和圖像強(qiáng)度曲線分布（右下）、FFT功率譜（右上）

支持高立體角EDX*的對(duì)稱Dual SDD*

支持雙重配置100 mm2 SDD檢測(cè)器，以實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度和處理能力進(jìn)行EDX元素分析。

由于第二檢測(cè)器位于檢測(cè)器的對(duì)面位置，因此，幾乎不會(huì)因?yàn)闃悠穬A斜，導(dǎo)致X射線中的信號(hào)檢測(cè)量發(fā)生變化。所以，即使是結(jié)晶性樣品，也不用顧忌信號(hào)量，可按照樣品的方向與位置進(jìn)行元素分析。

此外，對(duì)于電子束敏感樣品、低X光輻射量的樣品，除了原子列映射，在低倍、廣視野的高精細(xì)映射等領(lǐng)域也極為有效。

GaAs（110）的原子柱EDX映射

像差校正SEM圖像/STEM圖像　同時(shí)觀察

配有標(biāo)配二次電子檢測(cè)器，可同時(shí)觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過同時(shí)觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，可以掌握樣品的三維構(gòu)造。

在像差校正SEM圖像中，除了可以通過校正球差來提高分辨率之外，還可以獲取更真實(shí)地樣品表面圖像。

Au/CeO2催化劑的SEM/ADF-/BF-STEM圖像（上段）和Au粒子的高分辨率圖像（下段）

主要規(guī)格：

項(xiàng)目		內(nèi)容
電子源		W（310）冷陰極場(chǎng)發(fā)射型
加速電壓		200 kV、60 kV*1
圓像分辨率	STEM	0.078 nm（ADF-STEM圖像）
圓像分辨率	TEM	0.102 nm（晶格像）
倍率	STEM	×20～×8,000,000
倍率	TEM	×100～×1,500,000
樣品微動(dòng)	樣品臺(tái)	偏心測(cè)角儀（Eucentric Goniometer）5軸樣品臺(tái)
	樣品尺寸	3 mm Φ
	移動(dòng)范圍	X, Y＝±1.0 mm，Z=±0.4 mm
	樣品傾斜	α＝±25°、β＝±35°（日立2軸傾斜樣品桿*1）
像差矯正器		配有日立照射系統(tǒng)球面像差校正器（標(biāo)配）
圖像顯示	PC	Windows® 7 *2
	顯示器	27英寸寬屏液晶顯示器（機(jī)體控制顯示器、第二顯示器*1）
	攝像頭	標(biāo)配伸縮式攝像頭屏幕攝像頭*1（用于熒光板觀察）

機(jī)體尺寸/重量

項(xiàng)目	寬度×進(jìn)深×高度（mm）	重量（kg）
鏡體（含電子槍）	1060×1742×2970	1940
機(jī)體外殼蓋	1678×1970×3157	429
操作臺(tái)	1400×819×740	132
擴(kuò)展操作臺(tái)*1	580×819×740	53
FE槽	1041×840×1317	482
V0槽	398×630×1046	164
控制電源	1400×693×816	173
像差校正器電源	606×529×1096	81
排氣系統(tǒng)電源	913×663×1790	378
轉(zhuǎn)向系統(tǒng)電源	913×663×1790	394
配重塊	290×130×130	23
Gatan控制器13	576×648×1173	150
冷卻水控制裝置	470×540×350	25
冷卻水循環(huán)裝置13	970×970×1064	95
干式泵*1	252×400×336	23
空壓機(jī)*1	275×560×576	25

安裝條件

項(xiàng)目		內(nèi)容
室溫		15~23℃（溫度變化：0.2℃/h以內(nèi)）
濕度		40~60%RH
電源	機(jī)體	單相AC200～240 V ±10%、50/60 Hz、10 kVA 斷路器容量 50 A
電源	冷卻水循環(huán)裝置13	三相AC200 V ±5%、50/60 Hz、30 A
接地		D種接地（100 Ω以下）
冷卻水	水量	5.1～5.3 L/min 1系統(tǒng)、2.0～2.2 L/min 1系統(tǒng) （水壓0.25 MPa）
冷卻水	水溫	16～18℃（變動(dòng)：±0.1℃以內(nèi)）
氣體	SF6	99.9%以上、180 k～200 kPa
	干氮	99.9%以上、0～100 kPa
	壓縮空氣	600 k～800 kPa