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詳細介紹
超精密光學應力測量設備150AT 應力雙折射系統(tǒng)是Hinds應力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品。該應力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實驗室科研探索測量光學組件應力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測產(chǎn)品應力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測樣品應力情況，便于操作和日常監(jiān)測。
150AT 應力雙折射系統(tǒng)可以根據(jù)客戶需求選擇設置，使得測量更有針對性（高精度/大范圍相位延遲量），系統(tǒng)有著*測量速度的同時也具有*的測量分辨能力（<1 mm grid spacing ），150AT應力雙折射系統(tǒng)也提供傾斜位移平臺等設計來幫助客戶完成一些非常規(guī)掃描/測量需求。
超精密光學應力測量設備產(chǎn)品特點
自動X/Y位移平臺掃描
二維/三維圖形/參數(shù)表格顯示樣品應力分布測量結(jié)果
臺式整機設計組裝
靈活位移平臺設計，滿足個性化定制需求
強大數(shù)據(jù)擬合分析功能和友好用戶界面
參數(shù)
高精度測量系統(tǒng)選項 | 大范圍相位延遲量測量選項 | |
相位延遲量范圍: | 0.005 to 120+ nm | 0.005 to 300+ nm |
相位延遲量測量分辨率/ | 0.001 nm / ± 0.008 nm | 0.0 1 nm / ± 0.015 nm |
角度測量分辨率 / | 0.01º / ± 0.05° | 0.01º / ± 0.07° |
測量速率 / 時間4: | up to 100 pps / | |
尺寸: | 910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D) | |
光源波長5: | Various (632.8 nm standard) | |
測量光斑6: | Between 1 mm and 3 mm native | |
內(nèi)置測量調(diào)制頻率: | PEMLabsTM Photoelastic Modulator | |
解調(diào)分析技術(shù): | Hinds Instruments SignalocTM | |
測量單位: | nm (retardation), ° (angle) |
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