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詳細摘要： TRINITYF90+固定翼從動力、結(jié)構(gòu)、飛行器布局的角度，垂直起降無人機可以分為多種類型

詳細摘要： 成像型穆勒矩陣測量系統(tǒng)是Hinds公司研發(fā)的一款高速高精度穆勒矩陣測量系統(tǒng)，在不到一秒內(nèi)即可實時測得穆勒矩陣16組參數(shù)或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司...

詳細摘要： 光腔衰蕩光譜測量系統(tǒng)：光腔衰蕩光譜方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術(shù)，主要...

詳細摘要： 高精度MTF測量儀可以提供全面的鏡頭測試：軸上MTF，軸外MTF，波前像差，EFL，澤尼克像差（Zernike aberrations）及多波長（250-400...

詳細摘要： 激光干涉膜厚測量儀是基于Nanobase公司*的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量設(shè)備。Xper-IP可用于測量...

詳細摘要： 高分辨率激光干涉儀是一款便攜式、高靈敏度、高精度的波前分析儀。超分辨剪切干涉儀基于波前分析的四波剪切干涉技術(shù)，與傳統(tǒng)干涉儀相比較具有結(jié)構(gòu)緊湊，使用方便，無需標(biāo)準(zhǔn)...

詳細摘要： 光伏硅錠應(yīng)力測量儀：在光伏行業(yè)/半導(dǎo)體行業(yè)中，硅片的制作中，如果硅錠在生長中有著很強的殘余應(yīng)力，切片時會很容易造成碎裂，所以對硅錠中應(yīng)力參與的檢測對控制后續(xù)產(chǎn)品...

詳細摘要： Hinds液晶面板應(yīng)力分布測量系統(tǒng)于LED液晶玻璃基板的應(yīng)力分布測量。產(chǎn)品測量精度*（0.005 nm），且特制平臺掃描，于LED液晶面板尺寸（Exicor G...

詳細摘要： 非球面透鏡應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)利用光彈調(diào)制器技術(shù)，Hinds 公司的應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)可以在深紫外（193nm）波段進行應(yīng)力雙折射探測。針對特定材料制作（氟化鈣）...

詳細摘要： 超精密光學(xué)應(yīng)力測量設(shè)備150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品。該應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實驗室科研探索測量光學(xué)組件應(yīng)力分布測量，...

詳細摘要： 二維應(yīng)力成像儀是一款用于定量測量透明體內(nèi)延遲量的應(yīng)變和雙折射以及慢軸的方向的二維裝置。