分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵(lì)做出的響應(yīng)，通常分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成，如數(shù)字萬用表、電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復(fù)雜又耗時(shí)，又占用過多測試臺的空間；而且使用單一功能的測試儀器和激勵(lì)源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作，有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺點(diǎn)。 實(shí)施半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載，其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器、  波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng)，支持四象限工作。普賽斯“五合一”高精度數(shù)字源表（SMU）可為高校科研工作者、器件測試工程師及功率模塊設(shè)計(jì)工程師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀或示波器是否熟悉，都能簡單而迅速地得到精確的結(jié)果。

利用數(shù)字源表簡化半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試

豐富的半導(dǎo)體IV特性測試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)；

全面的解決方案：二極管、MOSFET、BJT、IGBT、二極管電阻器及晶閘管等；

提供適當(dāng)?shù)碾娎|輔件和測試夾具……二三極管iv測試儀iv曲線掃描儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表

普賽斯S系列數(shù)字源表優(yōu)點(diǎn)：

同時(shí)精確提供和測量電壓和/或電流；

     同步測量，減少測試時(shí)間

提供和測量非常廣的電流和電壓；

       電壓測試范圍30uV-300V,電流測試范圍1pA-1A

支持運(yùn)行用戶腳本程序，無需電腦控制，提高生產(chǎn)測試速度；

     序列測試，簡化操作，降低成本

采用用戶熟悉的圖形界面，不管用戶經(jīng)驗(yàn)是否豐富，使用起來都非常簡便；

     觸屏操作

與傳統(tǒng)電源比：

電源過零需要改變線連接方式；

     增加需反復(fù)開關(guān)機(jī)械開關(guān)，降低了設(shè)備可靠性

電壓電流限制精度有限；

    電壓1%，電流10mA

與電源結(jié)合萬用表組合比：

萬用表電源組合需要編程實(shí)現(xiàn)設(shè)備控制及同步；

    復(fù)雜連線、編程開發(fā)

電源限壓限流性能差

    限壓限流精度低，瞬態(tài)特性也無法保證

分立器件靜態(tài)測試系統(tǒng)“雙高”系統(tǒng)優(yōu)勢

    高電壓、大電流

    具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達(dá)3500V(Z大可擴(kuò)展至10kV)

    具有大電流測量/輸出能力,電流高達(dá)6000A(多模塊并聯(lián))

    高精度測量

    納安級漏電流,  μΩ級導(dǎo)通電阻

    0.1%精度測量

    模塊化配置

    可根據(jù)實(shí)際測試需要靈活配置多種測量單元系統(tǒng)預(yù)留升級空間,后期可添加或升級測量單元

    測試效率高

    內(nèi)置專用開關(guān)矩陣,根據(jù)測試項(xiàng)目自動(dòng)切換電路與測量單元

    支持國標(biāo)全指標(biāo)的一鍵測試

    擴(kuò)展性好

    支持常溫及高溫測試可靈活定制各種夾具

有關(guān)二三極管iv測試儀iv曲線掃描儀的更多信息，找普賽斯儀表專員為您解答；