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          沃特世SYNAPT G2-Si HDMS三維分辨率CID與ETD碎裂功能

          參考價面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱蘇州洋嘉電子有限公司
          • 品       牌
          • 型       號
          • 所  在  地蘇州市
          • 廠商性質(zhì)其他
          • 更新時間2022/8/2 10:15:33
          • 訪問次數(shù)337
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          蘇州洋嘉電子有限公司致力于自動化測試與測量領(lǐng)域,為客戶提供精密電子測量儀器、自動化測試以及檢測認(rèn)證等測試解決方案。公司始終本著“以信為本,以質(zhì)取勝”的宗旨,著眼于市場需求,遠(yuǎn)矚,憑借多年來辛勤耕耘和守信的經(jīng)營,贏得了業(yè)界和顧客的和信任! 公司產(chǎn)品應(yīng)用于消費(fèi)電子與家電、汽車與新能源、電源與照明、通訊與醫(yī)療等行業(yè)??蛻粲兄袊教欤袕V核,中國船舶,中國兵器,國電南瑞,中汽研,博世汽車,東風(fēng)汽車,京東方,同濟(jì)大學(xué),上海交大,西交大,蘇大,電科院等。
          測量儀器
          重新定義分辨率——三維分辨率信息
          沃特世SYNAPT G2-Si HDMS三維分辨率CID與ETD碎裂功能 產(chǎn)品信息

          重新定義分辨率——三維分辨率

          信息。信息學(xué)。影響力。通過優(yōu)秀的質(zhì)譜性能、行業(yè)優(yōu)秀的信息學(xué)和很好的平臺通用性,SYNAPT G2-Si可以對復(fù)雜混合物和分子進(jìn)行詳盡表征。

          • 利用高效T-Wave IMS實現(xiàn)高效的分離
          • 優(yōu)良的UPLC/MS/MS性能
          • 數(shù)據(jù)獨(dú)立型和數(shù)據(jù)依賴型T-Wave IMS解決方案
          • CID與ETD碎裂功能
          • 多種實驗類型選擇

          利用高效T-Wave IMS實現(xiàn)出色的分離

          保留。遷移。質(zhì)量。某些情況下,色譜和質(zhì)量數(shù)分辨率還不能滿足要求。借助高效T-Wave離子淌度技術(shù),您可以在分子大小和形狀的基礎(chǔ)上獲得另一個分離維度。利用分子碰撞截面特性這一項的功能,可以提供高水平的選擇性、特異性、靈敏度和結(jié)構(gòu)分析。其優(yōu)點(diǎn)還包括同分異構(gòu)體分離、消除干擾、生成更干凈的譜圖,以及更準(zhǔn)確地識別化合物ID。

           

          優(yōu)異的UPLC/MS/MS性能

          將StepWave和UPLC分離與定量飛行時間(QuanTof)技術(shù)相結(jié)合,實現(xiàn)較高的峰容量和數(shù)據(jù)質(zhì)量。StepWave是目前靈敏和可靠的離子源,具有“主動”選擇離子和“被動”防止中性污染物的功能。

          與其他所有質(zhì)譜分析器不同,QuanTof能夠提供高質(zhì)量數(shù)高分辨率、精確質(zhì)量數(shù)和準(zhǔn)確的同位素比例、寬的動態(tài)范圍(譜圖內(nèi)和定量)和m/z范圍,并且都可以在較快的采集速率實現(xiàn),即便是對于高基質(zhì)負(fù)荷的樣品也是如此。

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          數(shù)據(jù)獨(dú)立型和數(shù)據(jù)依賴型T-Wave IMS解決方案

          適用范圍和效率優(yōu)良,適用于復(fù)雜混合物的分析。通用型UPLC/HDMSE采集技術(shù)可以記錄每個可檢測的分子離子的碎片離子數(shù)據(jù),與其它“數(shù)據(jù)獨(dú)立型分析”(DIA)技術(shù)相比,具有良好的占空比;同時我們的HDMS信息學(xué)技術(shù)可以為各種各樣的應(yīng)用提供精簡的數(shù)據(jù)分析流程。 要想獲得更高效、更有效的靶向MS/MS,請選用啟用T-Wave IMS的工作流程。提高M(jìn)S/MS靈敏度,利用HD-DDA(數(shù)據(jù)引導(dǎo)分析)在研發(fā)實驗中實現(xiàn)更高的覆蓋;并結(jié)合HD-MRM,使用靶分子的任何碎片來獲得更低的定量限。

           

          CID與ETD碎裂功能

          TriWave的雙碰撞室結(jié)構(gòu)可提供碰撞誘導(dǎo)解離(CID)和/或電子轉(zhuǎn)移解離(ETD)碎裂,并且同時得到高分辨率和精確質(zhì)量數(shù),從而獲得更好的MS/MS檢測結(jié)果。高解析度四極桿包括4KDa、8KDa或32KDa質(zhì)量數(shù)范圍,適用于從小分子到大分子的MS/MS測定。

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          多種實驗類型選擇

          沃特世的離子源結(jié)構(gòu)可與各種技術(shù)相結(jié)合:對于分離,可結(jié)合UPLC、nanoUPLC、HDX Automation、APGC和UPC2;對于電離,可結(jié)合ESI、APCI、ASAP、 DESI、DART和LDTD。它們可快速互換,在幾分鐘內(nèi)即可使用。 對于直接進(jìn)樣分析方法,T-Wave IMS可提供優(yōu)秀的電離后選擇性與特異性。在與高性能可以與大氣壓離子源快速切換MALDI選件結(jié)合時,這一點(diǎn)具有非常明顯的優(yōu)勢。

           


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