產品描述

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金：

X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。我公司還經營世界的進口全新設備如：英國泰勒霍普森 （Taylor Hobson）、捷克吉爾斯派克 （gearSpect Group）、德國菲希爾 （Helmut Fischer）、德國EPK、荷蘭InnovaTest、瑞士TRIMOS、美國奧林巴斯（ Olympus）、美國雷泰( Raytek)等世界廠家生產的粗糙度儀、圓柱齒輪測量儀、涂鍍層測厚儀、各種硬度計、測高儀、超聲波探傷儀、DO-2 K PC錐齒輪單面嚙合測量儀等。歡迎在線留言或??！

產品特點：

     ? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設計；
     ? 配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
     ? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析

     ? 由下至上的測量方向，可以*簡便地實現(xiàn)樣品定位

典型應用領域包括：

     ? 珠寶、貴金屬和牙科合金
     ? 黃白色黃金
     ? 鉑和銀
     ? 銠
     ? 合金和涂層分析
     ? 多層涂層分析

所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點是具有出色的精度和長期穩(wěn)定性。重新校準的必要性大大降低，節(jié)省了時間和精力?，F(xiàn)代硅漂移探測器實現(xiàn)了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數(shù)法允許在不進行校準的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導體探測器組件位于儀器的下部，因此測量方向從樣品下方開始，樣品由透明窗口支撐。

預期用途	能量色散X射線測量儀（ED XRF）用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。
元素范圍	硫S（16）至鈾U（92）–同時多達24種元素
重復性	對于金≤0.5‰，測量時間60秒
設計	臺式單元，帶有向上打開的罩
測量方向	自下而上
X射線管	帶鈹窗的微焦點鎢管
高電壓	3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;*大陽極電流：1 mA
光圈（準直儀）	? 1 mm (39 mils), 可選? 2 mm (79 mils) or ? 0.6 mm (23.6 mils)
測量點	? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品（測量距離0毫米）