產(chǎn)品描述

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能，緊湊型且通用的X射線測量儀器，非常適合無損涂層厚度測量和材料分析。XAN 250和XAN 252儀器特別適合于測量和分析薄涂層，即使其成分非常復(fù)雜或濃度很小。高性能X射線熒光測量儀，用于快速無損材料分析和涂層厚度測量。高性能X射線熒光測量儀X-RAY XAN250，高性能X射線熒光測量儀，配有**進的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

主要特點：

     ? 高性能機型，具有強大的綜合測量能力
     ? 配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片
     ? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析
     ? 由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位

     ? 高性能X射線熒光測量儀X-RAY XAN250

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

     ? 對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
     ? 對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
     ? 在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進行高精度的分析

     ? 用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域 

規(guī)格參數(shù)：

預(yù)期用途	能量色散X射線熒光測量儀（EDXRF）用于測量薄涂層，痕量元素和合金
元素范圍	鋁（13）到鈾（92）–同時*多24個元素
測量方向	自下而上
X射線探測器	硅漂移檢測器（SDD）
分辨率(fwhm for Mn-Kα）	≤ 160 eV
測量點	? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品（測量距離0毫米）
測量距離	0…25毫米（0…1英寸）
樣品定位	手動
縮放系數(shù)	Digital 1x, 2x, 3x, 4x
*大樣品重量	13 kg (29 lb)
電源	AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
外形尺寸	403 x 588 x 365 mm