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在使用涂層厚度計(jì)時(shí),有時(shí)測量結(jié)果會感到偏差,或測量校正樣品的厚度不同,什么原因影響涂層測厚儀精度?
基體金屬磁性:磁涂層厚度計(jì)受基體金屬磁性變化(低碳鋼磁性變化可忽略不計(jì))的影響。同時(shí),儀器應(yīng)校準(zhǔn)與試件基體金屬性質(zhì)相同的標(biāo)準(zhǔn)片,或涂層試件應(yīng)校準(zhǔn),以避免熱處理和冷處理因素的影響。
基金屬的電性:渦流測厚儀受基金屬電導(dǎo)率的影響,基金屬的電導(dǎo)率與其材料成分和熱處理方法有關(guān)。解決方案是使用與測試基金性質(zhì)相同的標(biāo)準(zhǔn)板來校準(zhǔn)儀器(這與點(diǎn)相同,并解釋如何校準(zhǔn)涂層厚度計(jì))。
基金屬厚度:每臺儀器都有一個(gè)基金屬的臨界厚度。只要大于此厚度,測量就不會受到基金屬厚度的影響。此外,由于每臺儀器在測量時(shí)都有涂層的最小厚度值,因此除此值以外的涂層厚度無法測量。
邊緣測量效果:涂層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此,不能靠近試件的邊緣或內(nèi)角進(jìn)行測量,否則測量值會有較大的偏差。
試件曲率:試件曲率對測量有很大影響。隨著曲率半徑的降低,這種影響顯著增加,即平面上的測量比平面上的測量更準(zhǔn)確(很容易理解為曲面上的平面想象)。因此,在彎曲度較大的樣品表面測量涂層厚度是不準(zhǔn)確的。同樣,當(dāng)樣品不同程度地變形時(shí),也會導(dǎo)致測量偏差。
試件表面粗糙度:基體金屬和覆蓋層表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增加,測量效果增加。粗糙的表面會導(dǎo)致系統(tǒng)誤差和意外誤差。每次測量時(shí),應(yīng)增加不同位置的測量次數(shù),以克服這一意外錯(cuò)誤。如果基金屬粗糙,則必須將儀器的零點(diǎn)校對到基金屬試件上的幾個(gè)位置,而不是涂層的粗糙度相似;或者在使用對基金屬無腐蝕性溶液去除覆蓋層后,重新校準(zhǔn)儀器的零點(diǎn)。簡單理解:如果試件的粗糙度較高,則相當(dāng)于峰谷。測量峰值上的涂層厚度將小于實(shí)際涂層厚度,峰值谷上的涂層厚度將大于實(shí)際涂層厚度。此外,對于涂層的粗糙度,由于儀器測量頭需要與涂層測量緊密配合,涂層的峰谷測量會影響電導(dǎo)體上的磁阻值和渦流值反饋值。
環(huán)境磁場:測量環(huán)境周圍存在各種電氣設(shè)備產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,嚴(yán)重干擾磁性法測厚儀。當(dāng)周圍存在不同程度的高頻電磁波時(shí),渦流法測厚儀也會受到影響。
確保儀器測頭與被測件表面直接接觸,去除附著在試件表面的物質(zhì)。
測量頭壓力:測量頭放置在試件上的壓力尺寸會影響測量讀數(shù)。因此,應(yīng)保持恒壓。在實(shí)際測量過程中,我們需要用一些力將測量頭壓在試件表面,而不是太大或太小。
測量頭的方向:在測量過程中,應(yīng)保持測量頭垂直于樣品表面,以獲得最準(zhǔn)確的值。如果測量頭偏離,則得到更大的值。
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展會城市:北京市展會時(shí)間:2025-06-18