工控摘要：壓力變送器測量高溫高壓液位可以選用投入式或外接式液位計或同位素液位計。采用浮筒液位計在測量范圍的下限和上限大約20%的范圍不準，由于液體在高溫高壓下的密度和浮筒液位計在出廠標定時的密度不同，所以產(chǎn)生誤差。因為在合成氨廠，常常丈量32MPa、15MPa的容器的液位,所以高壓液位的丈量一般儀表很難丈量正確。
　　
　　低頻噪聲低頻噪聲主要是因為內(nèi)部的導電微粒不連續(xù)造成的。特別是碳膜電阻，其碳質材料內(nèi)部存在很多微小顆粒，顆粒之間是不連續(xù)的，在電流流過期，會使電阻的導電率發(fā)生變化引起電流的變化，產(chǎn)生類似接觸不良的閃爆電弧。另外，晶體管也可能產(chǎn)生相似的爆裂噪聲和閃爍噪聲，其產(chǎn)氣憤但愿理與電阻中微粒的不連續(xù)性相近，也與晶體管的摻雜程度有關。
　　
　　半導體器件產(chǎn)生的散粒噪聲因為半導體PN結兩端勢壘區(qū)電壓的變化引起累積在此區(qū)域的電荷數(shù)目改變，從而顯現(xiàn)出電容效應。當外加正向電壓升高時，N區(qū)的電子和P區(qū)的空穴向耗盡區(qū)運動，相稱于對電容充電。當正向電壓減小時，它又使電子和空穴闊別耗盡區(qū)，相稱于電容放電。當外加反向電壓時，耗盡區(qū)的變化相反。當電流流經(jīng)勢壘區(qū)時，這種變化會引起流過勢壘區(qū)的電流產(chǎn)生微小波動，從而產(chǎn)生電流噪聲。其產(chǎn)生噪聲的大小與溫度、頻帶寬度△f成正比。
　　
　　電路板上的電磁元件的干擾很多電路板上都有繼電器、線圈等電磁元件，在電暢通流暢過期其線圈的電感和外殼的分布電容向附近輻射能量，其能量會對附近的電路產(chǎn)生干擾。像繼電器等元件其反復工作，通斷電時會產(chǎn)生瞬間的反向高壓，形成瞬時浪涌電流，這種瞬間的高壓對電路將產(chǎn)生極大的沖擊，從而嚴峻干擾電路的正常工作。