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【儀器簡介】

廣東老化試驗箱可做二種測試：老化與耐黃變

老化：本機可促進加硫橡膠之劣化，以計算加熱前后拉力及伸長之變化率，一般認為在70 ℃下測試一天，理論上相當于暴露在大氣中6個月的時間。

耐黃：本機是模擬大氣環(huán)境中，受陽光紫外線照射，外觀變化一般認為在50℃下測試9小時，理論上相當于暴露在大氣中6個月的時間。

設(shè)計標準：JIS-P8127、ASTM D1148

廣東老化試驗箱技術(shù)參數(shù)

內(nèi)箱尺寸：50×50×60cm

溫控范圍：常溫～200℃。

控制方式：自動演算控制器

溫度顯示：0.1℃

控制精度：±3℃

分布精度：±1℃（at-100℃）

時間記憶：0-999小時hours,停電記憶型、含蜂鳴器

轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)速：￠45cm、10±2 轉(zhuǎn)/分鐘

UV光源：UV300W燈泡

標準配件：棚板2片

加熱方式：熱風循環(huán)

安全保護：超溫斷電指示燈、安全超載開關(guān)電流表

制造材質(zhì)：內(nèi)部SUS#304不銹鋼板，外部高級烤漆

外型尺寸：（L×W×H） 114×94×130 cm

重量：140 kg

電源：1∮,AC220V, 15A

廣東老化試驗箱對半導體材料的測試原理

在老化階段進行半導體測試之所以有意義有多種原因，在探討這些原因之前，我們首先要明確“測試”的真正含義。

一般半導體測試要用到昂貴的高速自動測試設(shè)備，在一個電性能條件可調(diào)的測試臺上對半導體作測試。它還可以在標稱性能范圍之外進行，完成功能（邏輯）和參數(shù)（速度）方面的測試，像信號升降時間之類的參數(shù)可精確到皮秒級。也許是因為可控測試環(huán)境只有一個器件作為電性負載，所以信號轉(zhuǎn)換很快，能夠進行真實的器件響應(yīng)參數(shù)測量。

但在老化的時候，為提高產(chǎn)品的產(chǎn)量是能夠同時對盡可能多的器件作老化。為滿足這一要求，可把多個器件裝在一個大的印刷線路板上，這個板稱為老化板，它上面的所有器件都并聯(lián)在一起。大型老化板的物理電氣特性不能和只測試一個器件的小測試臺相比，因為老化板上的容性和感性負載會給速度測試帶來麻煩。所以我們通常無法用老化進行所有功能測試。不過在某些情況下，運用特殊的系統(tǒng)設(shè)計技術(shù)在老化環(huán)境下進行速度測試也是可能的。

廣東老化試驗箱系統(tǒng)中的“測試”可以指任何方面，從對每一器件每一管腳進行基本信號測試，到對老化板上的所有器件作幾乎*功能測試，這一切均視器件復雜性及所選用的老化測試系統(tǒng)而定?？梢哉f對任何器件進行*功能測試都是可以做得到的，但是這樣采用的方法可能會減少老化板上的器件密度，從而增加整體成本并降低產(chǎn)量。