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藍(lán)寶石測厚儀
高精度電容位移傳感器用于藍(lán)寶石測厚，藍(lán)寶石測厚儀，藍(lán)寶石厚度測量，非金屬材料測厚，薄膜測厚，薄膜測厚儀等等，詳情請參考附件文檔資料。
大多數(shù)絕緣材料的非接觸測厚
使用MTI電容放大器和電容探針實(shí)現(xiàn)薄的非導(dǎo)電材料（如玻璃、藍(lán)寶石、塑料和其他聚合物）的精確厚度測量。
電容傳感器以其精確測量導(dǎo)電目標(biāo)厚度和位置的能力而聞名。
然而，電容傳感器還可以測量非導(dǎo)電材料（如藍(lán)寶石、玻璃、泡沫、許多塑料，甚至半絕緣半導(dǎo)體材料（如砷化鎵和氮化硅）的厚度卻鮮為人知。
用老式的模擬電容探頭和放大器測量厚度是可能的，但在處理未校準(zhǔn)的模擬信號時是困難的。
現(xiàn)在有更好的辦法了。
MTI的數(shù)字Accumeasure系統(tǒng)的內(nèi)置測量和計(jì)算能力可以在執(zhí)行簡單的校準(zhǔn)程序后測量和數(shù)字計(jì)算非導(dǎo)電目標(biāo)的厚度。Accumeasure放大器和計(jì)算機(jī)對目標(biāo)材料的介電常數(shù)和總間隙進(jìn)行補(bǔ)償。
MTI的電容探頭發(fā)出一個電場，電場穿過絕緣材料，絕緣材料的介電常數(shù)改變了電場。為了使電容系統(tǒng)測量厚度，它必須通過對被測材料進(jìn)行校準(zhǔn)來考慮不同的介電常數(shù)。只要材料的介電常數(shù)不變，校準(zhǔn)將保持一致，甚至可以測量非導(dǎo)電板或移動的非導(dǎo)電目標(biāo)，以進(jìn)行過程控制。
為獲得效果，地面目標(biāo)區(qū)域應(yīng)為圓形，直徑應(yīng)與探頭相同。與探頭直徑大致相同的方形接地回路也適用。一個相當(dāng)于探針大小許多倍的大接地板也會使精度略有下降。在進(jìn)行厚度測量時，透明塑料或玻璃材料的非接觸測量很難或不可能用激光三角測量傳感器進(jìn)行測量。數(shù)字Accumeasure是進(jìn)行這些厚度測量的合適方法，因?yàn)樵诖蠖鄶?shù)情況下，透明玻璃和塑料不能提供足夠的反射，使激光三角測量傳感器在漫反射模式下工作。大部分的激光能量直接穿過清晰的目標(biāo)。如果使用鏡面反射激光頭，可以獲得位移讀數(shù)，但很多時候這是不可取的，因?yàn)榧す夤獍邥鶕?jù)距離改變位置。
此外，如果與外部厚度傳感器結(jié)合使用，MTI的數(shù)字Accumeasure可用于計(jì)算/監(jiān)測非導(dǎo)電材料的密度。如果您有相關(guān)需求
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