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          重慶里博儀器有限公司

          主營(yíng)產(chǎn)品: 超聲波探傷儀 超聲波測(cè)厚儀

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          公司信息

          聯(lián)人:
          程先生
          址:
          九龍坡
          編:
          510630
          鋪:
          http://www.tzhjjxc.com/st55515/
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          LT200-1高精度覆層測(cè)厚儀LT200LT200-1高精度覆層測(cè)厚儀LT200
          LT200-1高精度覆層測(cè)厚儀LT200
          參考價(jià) 面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 型號(hào) LT200-1高精度覆層測(cè)厚儀LT200
          • 品牌
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
          • 所在地 重慶市

          聯(lián)系方式:程先生查看聯(lián)系方式

          更新時(shí)間:2022-03-29 08:02:23瀏覽次數(shù):1183

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          【簡(jiǎn)單介紹】
          LT200-1高精度覆層測(cè)厚儀LT200

          產(chǎn)品說(shuō)明產(chǎn)品簡(jiǎn)介:LT200-1高精度覆層測(cè)厚儀

          在國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品中,測(cè)量精度zui高(*),速度zui快,穩(wěn)定性。且操作方便,外形美觀。主要測(cè)量金屬表面涂、鍍層的厚度。
          本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。配置不同的探頭,適用于不同場(chǎng)合。它是無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的*儀器。

          功能特點(diǎn)
          ●兩種工作方式:直接方式和成組方式轉(zhuǎn)換
          ●兩種測(cè)量方式:?jiǎn)未螠y(cè)量和連續(xù)測(cè)量(大面積內(nèi)快速獲取讀數(shù))轉(zhuǎn)換公、英制轉(zhuǎn)換
          ●開機(jī)后顯示zui后一個(gè)讀數(shù)
          ●背景照明(可選擇)
          ●聲音提示數(shù)據(jù)已讀取
          ●可設(shè)置數(shù)據(jù)的測(cè)量范圍,聲音提示數(shù)據(jù)超出允許的測(cè)量范圍
          ●具有測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能
          ●具有測(cè)量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
          ●具有測(cè)量數(shù)據(jù)的刪除功能(刪除當(dāng)前測(cè)量值,刪除當(dāng)前組測(cè)量數(shù)據(jù),刪除當(dāng)前組所有數(shù)據(jù))
          ●可存儲(chǔ)295個(gè)數(shù)據(jù)
          ●全中文菜單
          ●多種校準(zhǔn)方式
          ●具有手動(dòng)和自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
          ● LT200-1N標(biāo)配N1探頭
          標(biāo)準(zhǔn)配置:主機(jī)、探頭(N1)、基體、試塊、5試片(50µm100µm、200µm、500、1000µm)、9V堿性電池

          LT系列儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù) 
           

          探頭

          F400

          F1

          F1/90

          F10

          N400

          N1

          CON2

          測(cè)量原理

          磁性

          渦流

           

          測(cè)量范圍(μm

          0400

          01250

          010mm

          0400

          012500

          10200

          測(cè)量精度μm

          一點(diǎn)校準(zhǔn)

          ±[(13)%H+0.7]

          ±3%H+1

          ±3%H+10

          ±3%H+1

          ±3%H+1.5

          ±(3%H+1)

          二點(diǎn)校準(zhǔn)

          ±13H+0.7

          ±[(1~3)%H+1]

          ±[(13)%H+10]

          ±[(13)%H+1]

          ±[(13)%H+1.5]

          ---

          低限分辨率

          0.1

          0.1

          1

          0.1

          0.1

          1

          zui小曲率半徑(mm)

          )1

          1.5

          平直

          10

          1.5

          3

          僅為平面

          zui小面積直徑(mm)

          3

          7

          40

          4

          5

          7

          基本臨界厚度(mm)

          0.2

          0.5

          2

          0.3

          0.3

          無(wú)限制


          測(cè)頭選用參考表
           

          覆蓋層基體

          有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)

          非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)

          覆蓋層厚度不超過100μm

          覆蓋層厚度超過100μm

          覆蓋層厚度不超過100μm

          覆蓋層厚度超過100μm

          如鐵、鋼等磁性金屬

          被測(cè)面積直徑大于30mm

          F400型測(cè)頭0~400μm
          F1型測(cè)頭

          0
          ~1250μm

          F1型測(cè)頭
          0
          ~1250μm
          F10型測(cè)頭

          0
          ~10μm

          F400型測(cè)頭0~400μm
          F1型測(cè)頭

          0
          ~1250μm

          F1型測(cè)頭
          0
          ~1250μm
          F10型測(cè)頭

          0
          ~10μm

          被測(cè)面積直徑小于30mm

          F400型測(cè)頭0~400μm

          F400型測(cè)頭0~400μm
          F1型測(cè)頭

          0
          ~1250μm

          F400型測(cè)頭0~400μm

          F400型測(cè)頭0~400μm
          F1型測(cè)頭

          0
          ~1250μm

          如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬

          被測(cè)面積直徑大于10mm

          N1型測(cè)頭0~1250μm
          N400測(cè)頭0~400μm

          僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0~40μm N400測(cè)頭0~40μm

          被測(cè)面積直徑大于10mm

          N400測(cè)頭0~400μm

          N400測(cè)頭0~40μm

          塑料、印刷線路非金屬基體

          被測(cè)面積直徑大于7mm

          --

          --

          CN02型測(cè)頭10~200μm

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