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數(shù)字集成電路多值邏輯測試儀 庫存：M264585            數(shù)字集成電路多值邏輯測試儀 庫存：M264585 

數(shù)字集成電路多值邏輯測試儀

◆利用的多值比較法對器件進行快速的參數(shù)和功能綜合測試。

◆ 用戶可按不同的要求選擇測試模式，對器件進行直流參數(shù)測試。以區(qū)分IC品質(zhì)，快速分選。實用。經(jīng)該產(chǎn)品測試過的器件，可以放心地上機使用，解決產(chǎn)品質(zhì)量問題。

◆數(shù)字IC功能參數(shù)測試儀。操作簡便，測試成本低廉，實用。

產(chǎn)品主要性能:

在功能測試的基礎(chǔ)上

測試器件的輸人端注人電流。

測試器件的輸人端交叉漏電流。

測試器件的輸出端“三態(tài)"及“OC"門。

測試器件的輸出負(fù)載電流。

測試器件的功耗電流。

查找未知芯片型號。

可以單次測試，也可以循環(huán)測試.

可自動識別74系列中的CMOS器件

(如: 74C、74HC、74HCT等)。

當(dāng)被測芯片被確認(rèn)為74系列CMOS器件時，儀器將自動地對其進行測試并在顯示屏前顯示一一個“C"字(此時被測器件電

源為TTL電源)。

本產(chǎn)品所提供的多值測試參數(shù):

8種可選擇的測試電源。

根據(jù)不同材料的IC設(shè)置多種輸入端注入電流。

多種測試電壓比較值。

功耗測試。

以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成不同的測試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測試模式。

測試模式:

模式O:全組合參數(shù)測試。

模式1-C:操作與模式0相同，但各有其不同的測試參數(shù)數(shù)值。

模式D:任選輸人負(fù)載電流及測試電源和輸人電流測試。

模式E:自檢。內(nèi)容包括部分，顯示、鍵盤及測試管腳電路。