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普通四探針方阻電阻率測(cè)試儀庫存號(hào)M406304 普通四探針方阻電阻率測(cè)試儀庫存號(hào)M406304 

FT-331普通四探針方阻電阻率測(cè)試儀

描述：

采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.

二.參照標(biāo)準(zhǔn)：

硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國標(biāo)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.

三.適用范圍：

適用于企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；采用芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報(bào)表

用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試等相關(guān)產(chǎn)品

規(guī)格型modelFT-331

1.方塊電阻范圍10^-5～2×10^5Ω/□

2.電阻率范圍 10^-6～2×10^6Ω-cm

測(cè)試電流范圍0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA

4.電流精度 ±0.1% 

5.電阻精度 ≤0.3%

6.顯示讀數(shù)液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式普通單電測(cè)量

8.工作電源輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W 

9.≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.

11.測(cè)試探頭探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

12.標(biāo)準(zhǔn)電阻（選購）規(guī)格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

標(biāo)準(zhǔn)配置外訂購明細(xì)：

序號(hào)型號(hào)品名單位數(shù)量備注

1340-CSX測(cè)試線套1

209A標(biāo)準(zhǔn)電阻個(gè)1-5選購規(guī)格和數(shù)量

306A四探針測(cè)試平臺(tái)套1含探頭1個(gè)

406B四探針探頭個(gè)1方型或直線型選購

5340-TTZ鍍金彈簧銅針4根組 14根為一組

6340-WTZ彈簧鎢針4根組14根為一組

7340-RJ分析軟件套1

8PC電腦+套1依據(jù)客戶要求配置

9300-JL檢測(cè)技術(shù)服務(wù)份1 計(jì)量1份

10WDCGQ溫度傳感器套1常溫-125度

331-YB延保服務(wù) 年1-3