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納米激光粒度儀現(xiàn)貨    納米激光粒度儀現(xiàn)貨

庫(kù)號(hào)：M208501   查看hh

midwest-group
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
其測(cè)試原理建立在分散在液體顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)基礎(chǔ)之上，顆粒越小，運(yùn)動(dòng)速度越快，顆粒越大，勻速速度越慢。作為核心器件,通過(guò)測(cè)試某一角度的散射光的變化并求出自相關(guān)函數(shù)（即擴(kuò)散系數(shù)），根據(jù)Stokes-Einstein方程計(jì)算出顆粒粒徑及分布，它具有快速，高分辨率，重復(fù)及準(zhǔn)確等特點(diǎn)，同時(shí)具有不破壞性，不干擾納米顆粒原有狀態(tài)的有點(diǎn)，是納米顆粒粒度測(cè)試的產(chǎn)品。


適用范圍：
陶瓷，藥品，乳液，涂料染料，顏料，化工產(chǎn)品，催化劑，鉆井泥漿，磨料，潤(rùn)滑劑，煤粉，粉塵，細(xì)胞，細(xì)菌，食品，農(nóng)藥，石墨，石墨烯，硅溶膠，模式，金屬及非金屬粉末及其他納米粉狀物料的行業(yè)。

儀器原理圖：








準(zhǔn)確性及重復(fù)性：

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996
GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
測(cè)試范圍 1-10000nm（與樣品有關(guān)）
濃度范圍 0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關(guān))
準(zhǔn)確度誤差 <1%（標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）
重復(fù)性誤差 <1%（標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值）
激光光源 光纖半導(dǎo)體激光器，λ= 532nm，P=30mw
探測(cè)器 光電倍增管（PMT）
散射角 90o
樣品池體積 10mm*10mm*40mm, 1--4mL
溫控范圍 5-90 ℃
溫控精度 0.2℃
測(cè)試速度 <5 Min
數(shù)字相關(guān)器主要參數(shù) 規(guī)格型號(hào) CR256
自相關(guān)通道 256
基線通道 4
物理通道數(shù) 5000
延遲時(shí)間 100ns-10ms（可調(diào)）
體積 480mm*270mm*170mm
重量 12Kg


產(chǎn)品特點(diǎn)和：

的測(cè)試原理 采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜，根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)速度測(cè)定顆粒大小。大小顆粒運(yùn)動(dòng)速度不同，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。
高速數(shù)據(jù)采集 使用PCS測(cè)定納米級(jí)顆粒大小，必須能夠分辨納秒級(jí)信號(hào)起伏。本儀器的核心部件采用我公司研制的CR256數(shù)字相關(guān)器，具有識(shí)別8ns的*分辨能力和*的信號(hào)處理速度，其數(shù)據(jù)處理速度高達(dá)162M。它能實(shí)時(shí)完成動(dòng)態(tài)散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算，從而有效地反映不同大小顆粒的動(dòng)態(tài)分光散射信息，為測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性典型基礎(chǔ)。
高靈敏度和信噪比 采用級(jí)高性能光電倍增管（PMT），對(duì)光子信號(hào)具有*的靈敏度和信噪比。
高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導(dǎo)體溫控，溫控精度高達(dá)0.2℃,使樣品在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關(guān)譜探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗干擾能力，從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性。




分析操作界面：
運(yùn)行程序，進(jìn)入樣品測(cè)試界面。該界面由“樣品信息及測(cè)試條件”、“測(cè)試結(jié)果及粒度分布”、“相關(guān)曲線”及“光子計(jì)數(shù)率”等四個(gè)窗口組成，其中“樣品信息及測(cè)試條件”窗口用來(lái)記錄所測(cè)樣品的信息及測(cè)試條件等；“測(cè)試結(jié)果及粒度分布”窗口顯示測(cè)試數(shù)據(jù)及粒度分布圖；“相關(guān)曲線”窗口中描述數(shù)字相關(guān)器輸出的自相關(guān)曲線；“光子計(jì)數(shù)率”窗口中實(shí)時(shí)地顯示當(dāng)前散射光光子數(shù)。