X熒光光譜儀在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

　　X熒光光譜儀分類：

　　X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。

　　以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型，以能量特征為原理的稱為能量色散型。

　　X熒光光譜儀主要用途：

　　X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，可以 測定元素含量。

　　近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。

　　大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

　　為了滿足現代企業(yè)管理和生產要求，必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制，傳統的化學分析方法已經不能滿足生產過程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達到良好的質量控制指標，大都配備了相應的分析儀。

　　X熒光分析儀儀器特點：

　　電制冷探測器，可以快速分析從11Na到92U之間的全部元素，精度高、測量時間短，它可以廣泛用于有色礦山、鋼鐵、水泥、耐火材料、不銹鋼、合金等領域。

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