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冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱 TS系列
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具體成交價以合同協(xié)議為準- 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：156更新時間：2022-08-19 17:16:32
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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
TS系列冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱
*設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到*小；
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求；
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~99%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國際品牌產(chǎn)品，使設備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
*設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到*小；
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求；
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~99%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國際品牌產(chǎn)品，使設備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
*設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
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| TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W | TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W | TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W | TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W | |||||
| 標稱內(nèi)容積（升） | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
| 試驗方式 | 氣動風門切換2溫室或3溫室方式 | |||||||
| 性能 | 高溫室 | 預熱溫度范圍 | ＋60～＋200℃ | |||||
| 升溫速率※1 | ＋60→＋200℃≤20分鐘 | |||||||
| 低溫室 | 預冷溫度范圍 | －78－0℃ | ||||||
| 降溫速率※1 | ＋20→－75℃≤80分鐘 | |||||||
| 試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ | ||||||
| 溫度范圍 | TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | |||||||
| 溫度恢復時間※2 | 5分鐘以內(nèi) www.oven.cc | |||||||
| 試樣擱架承載能力 | 30kg | |||||||
| 試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | ||||
| 內(nèi)部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |||
| H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||||
| D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||||
| 外形尺寸（mm）※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |||
| H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||||
| D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||||
| ※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。 | ||||||||
| ※2恢復條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布） | ||||||||
| ||||||||
TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W | TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W | TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W | TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W | |||||
標稱內(nèi)容積（升） | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
試驗方式 | 氣動風門切換2溫室或3溫室方式 | |||||||
性能 | 高溫室 | 預熱溫度范圍 | ＋60～＋200℃ | |||||
升溫速率※1 | ＋60→＋200℃≤20分鐘 | |||||||
低溫室 | 預冷溫度范圍 | －78－0℃ | ||||||
降溫速率※1 | ＋20→－75℃≤80分鐘 | |||||||
試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ | ||||||
溫度范圍 | TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | |||||||
溫度恢復時間※2 | 5分鐘以內(nèi) | |||||||
試樣擱架承載能力 | 30kg | |||||||
試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | ||||
內(nèi)部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |||
H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||||
D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||||
外形尺寸（mm）※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |||
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||||
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||||
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。 | ||||||||
※2恢復條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布） | ||||||||
冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)
---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能
試驗規(guī)范 | 駐留溫度(℃) (exposure temp.) | 駐留溫度時間(Min) (exposure time) | 覆歸時間 (recovery time) | 周期 或次數(shù) | 試驗起 始點 | 備注 | 適用機臺型號 TS-(80/150/225/408) | ||||||||
高溫 | 室溫 | 低溫 | 高溫/低溫 | 室溫 | S | U | L | ||||||||
MIL-STD-883E (Method 010.7) | +85 | +10 | ---- | -55 | 0 | ≧10min ≦15min | ---- | 含駐留時間& 轉(zhuǎn)換時間≦15min | *少 10次 | 低溫或 高溫 | Temperature Cycling (轉(zhuǎn)換時間<1min) 實驗過程若中斷 超過總實驗之1/10 次則實驗須重做 | ◎ | ◎ | ---- | |
0 | |||||||||||||||
+125 | +15 | ◎ | ◎ | ---- | |||||||||||
0 | -10 | ||||||||||||||
+150 | +15 | ◎ | ◎ | ---- | |||||||||||
0 | |||||||||||||||
+150 | +15 | -65 | 0 | ◎ | . | ---- | |||||||||
0 | -10 | ||||||||||||||
MIL-STD-202F (Method 07G) | +83 | +3 | -25 | +10 | -55 | 0 | 28g以下 15～30 Min 28～136g 30Min 136g～1.36Kg 60Min 1.36～13.6Kg 120Min 13.6~136Kg 240Min | Max. 5 Min | 5 Min 以內(nèi) | 5 cycle 25 50 100 | 低溫 | Transfer time 不超過5 min | ◎ | ◎ | ◎ |
0 | -3 | ||||||||||||||
+125 | +3 | -65 | 0 | ◎ | ◎ | ---- | |||||||||
0 | -5 | -5 | |||||||||||||
+125 | +3 | -65 | 0 | ◎ | ◎ | ---- | |||||||||
0 | -5 | ||||||||||||||
JIS C 0025 IEC 68-2-14 GB 2423.22 | +70 +85 +100 +125 | ±2 ±2 ±2 ±2 | 室溫 | -5 -10 -25 -40 -55 -65 | ±3 ±3 ±3 ±3 ±3 ±3 | 3hr 2hr 1hr 30min 或無定義則 以3hr定義 | 手動轉(zhuǎn) 移時間 2～3Min | 為駐留時間 之1/10 | 5 cycle 除非有 其它規(guī)格 | 低溫 | Auto Transfer time 不超過30 sec 小試件 Transfer time 不超過10 sec | ★ | ★ | ★ | |
◎ | ◎ | ◎ | |||||||||||||
◎ | ◎ | ◎ | |||||||||||||
◎ | ◎ | ◎ | |||||||||||||
◎ | ◎ | ◎ | |||||||||||||
◎ | ◎ | ---- | |||||||||||||
IPC 2.6.7 | +70 | ±2 | ---- | 0 | +0 | 15 Min | ---- | 2 Min 以內(nèi) | 100 cycle | 高溫 (試驗結(jié)束 點在高溫) | Transfer time 不超過2 min | ★ | ★ | ★ | |
-0 | -5 | ||||||||||||||
+85 | +5 | -40 | +0 | ◎ | ◎ | ◎ | |||||||||
-0 | -5 | ||||||||||||||
+105 | +5 | -55 | +0 | ◎ | ◎ | ． | |||||||||
-0 | -5 | ||||||||||||||
+105 | +5 | -65 | +0 | ． | ． | ---- | |||||||||
-0 | -5 | ||||||||||||||
+105 | +5 | ． | ． | ---- | |||||||||||
-0 | |||||||||||||||
IPC 2.6.6 | +85 | +3 | -25 | +10 | -55 | +0 | 30 Min | 10-15 Min | 5 cycle | ◎ | ◎ | ◎ | |||
-0 | -5 | ||||||||||||||
+125 | +3 | -5 | -65 | +0 | ◎ | ◎ | ---- | ||||||||
-0 | -5 | ||||||||||||||
Bellcore GR-1221-CORE | +70 | ±2 | ---- | ≧10min ≦15min | ---- | 含駐留時間 &轉(zhuǎn)換時間≦15min | 500 cycle OR 1000cycle | ◎ | ◎ | ◎ | |||||
+80 | ±2 | ◎ | ◎ | ◎ | |||||||||||
JESD22 A104-A | +125 | +10 | -40 | +0 | ≦15min | 含駐留時間 &轉(zhuǎn)換時間≦15min | 抽10次 可接受; 1000次 合格 | Temperature Cycling (轉(zhuǎn)換時間<1min) 實驗過程若中斷 超過總實驗之1/10 次則實驗須重做 | ◎ | ◎ | ◎ | ||||
-0 | -10 | ||||||||||||||
+85 | +10 | -55 | +0 | ◎ | ◎ | ． | |||||||||
-0 | |||||||||||||||
+125 | +10 | ||||||||||||||
-0 | -10 | ||||||||||||||
+150 | +10 | ||||||||||||||
-0 | |||||||||||||||
+150 | +10 | -65 | +0 | ◎ | ． | --- | |||||||||
相關(guān)產(chǎn)品
