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賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀（原美國(guó)熱電）（ED XRF）

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賽黙飛世爾量色散X熒光光譜儀(原美國(guó)熱電)(ED XRF) ＊端窗超高通量RH靶，76um鈹窗，空氣冷卻＊*的大面積高厚度硅鋰Si(Li)檢測(cè)器＊全數(shù)字化譜分析器 32bit 4096通道＊高穩(wěn)定性：RSD<0.3% 8小時(shí) ＊檢測(cè)元素：F~U

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賽黙飛世爾科技 ThermoFisher（美國(guó)熱電）能量色散X-射線(xiàn)熒光光譜儀（ED-XRF）儀器介紹　　　　　　

＊端窗超高通量RH靶，76um鈹窗，空氣冷卻
＊*的大面積高厚度硅鋰Si（Li）檢測(cè)器
＊全數(shù)字化譜分析器 32bit 4096通道
＊高穩(wěn)定性：RSD<0.3% 8小時(shí)
＊檢測(cè)元素：F~U

技術(shù)參數(shù)

賽黙飛世爾科技 ThermoFisher（美國(guó)熱電）能量色散X-射線(xiàn)熒光光譜儀（ED-XRF）

樣品室：樣品類(lèi)型固體、粉末、液體、濾渣、鍍層和其它
尺寸 30.5cm（w）x38.9cm（D）x6.6cm（H）
增高室（選購(gòu)件）: 21.5cm或37.1cm
單位盤(pán) 樣品可大至樣品室大小
10位盤(pán)（選購(gòu)件）帶自轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，樣品可大至47mm
20位盤(pán)（選購(gòu)件）樣品可大至31mm
自動(dòng)和手動(dòng)盤(pán) 為特種樣品的樣品盤(pán)，選購(gòu)件
環(huán)境空氣、真空（選購(gòu)件）和充氦（選購(gòu)件）

激發(fā)（核心元件）：
X-光管：超高通量，端窗，RH靶，76um鈹窗，空氣冷卻，其它靶可選
X-光發(fā)生器 4-50KV，1KV間隔。O.02-2.OmA,0.02mA 間隔
濾光片 7種濾光片加1空位，自動(dòng)選擇
準(zhǔn)直器（選購(gòu)件） 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五種

X射線(xiàn)檢測(cè)配置器（核心元件）
類(lèi)型：Si（Li）硅鋰
晶體面積：
Si（Li）面積15mm?，分辨率<155 eV
Si（Li）LN Si（Li）面積30mm?，分辨率<149 eV
晶體厚度： 3.5mm
檢測(cè)元素：F~U

制冷方式：電致冷/液氮致冷
穩(wěn)定性：RSD<0.3% 8小時(shí)
靈敏度：Fe, Pb <3pmm（油）
再現(xiàn)性：RSD<0.3%/1x10負(fù)6次方計(jì)數(shù)

譜處理器（核心元件）
處理器類(lèi)型：全數(shù)字話(huà) 32bit 3 DSP
譜通道：2048 20eV/通道
修正時(shí)間：1~40ms, 用戶(hù)選擇
計(jì)數(shù)率：>100,000cps （live）
能量范圍：400~4096eV
死時(shí)間影響：<3.0%
重疊校正：<0.3%
能量校正：軟件自動(dòng)

尺寸和重量
外形尺寸寬71.88cm，高41.15cm，深59.18cm
重量 90.7kg

使用要求
電源 100、115或230VAC,50或60hz，功率1000W，真空泵需2000W
遙控診斷和遙控監(jiān)測(cè)需要通過(guò)因特網(wǎng)連線(xiàn)

環(huán)境要求
溫度 O～32℃
濕度 20～80％RH（無(wú)冷凝水）

賽黙飛世爾科技 ThermoFisher（美國(guó)熱電）能量色散X-射線(xiàn)熒光光譜儀（ED-XRF） 主要特點(diǎn)

超大Si（Li）硅鋰離晶體，具有*的痕量分析的靈敏度，打破lng的檢測(cè)限壁壘
全數(shù)字脈沖處理器技術(shù)，死時(shí)間達(dá)60%，以及優(yōu)異的峰背比
高級(jí)FP無(wú)標(biāo)樣分析軟件，進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣分析，減少對(duì)標(biāo)樣的依賴(lài)性
高靈敏電制冷Si（Li）探測(cè)器技術(shù), 儀器免維護(hù)和*運(yùn)行
超大樣品室，可容納300mm400mm的樣品
全自動(dòng)校準(zhǔn)，自動(dòng)監(jiān)測(cè)，自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)，*計(jì)算機(jī)控制
鍍層和薄膜測(cè)量技術(shù), 具有無(wú)標(biāo)樣分析測(cè)厚技術(shù)

數(shù)據(jù)采集
數(shù)字脈沖處理器全部參數(shù)程序控制，自動(dòng)能量校正
多道脈沖分析器 32位，4096道多道分析器
數(shù)據(jù)接口計(jì)算機(jī)以太網(wǎng)接口

分析處理器和 WinTrace
計(jì)算機(jī)／打印機(jī) 主流計(jì)算機(jī)和彩色打印機(jī)
顯示 X-射線(xiàn)能譜，重疊譜比較，峰鑒定標(biāo)記，分析參數(shù)
輸出監(jiān)視器，圖形打印機(jī)和調(diào)制解調(diào)器
自動(dòng)化樣品室環(huán)境，X一射線(xiàn)源輸出，濾光片選擇，多次激發(fā)條件，和樣品選擇
譜處理自動(dòng)元素鑒定，數(shù)字濾波本底扣除，zui小二乘法經(jīng)驗(yàn)峰去卷積，總峰強(qiáng)度，和凈峰強(qiáng)度
分析技術(shù) 經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法和基本參數(shù)法，歸一化，校正曲線(xiàn)圖顯示
操作系統(tǒng) 微軟WindowsXP及更新的版本

參考方法
ASTM方法
D5839-96（2001） X-熒光能譜法測(cè)定危險(xiǎn)廢燃料中痕量元素的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
D6052.97 X-熒光能譜法對(duì)液體危險(xiǎn)廢料中元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法。

* 用于美國(guó)H.R.4040（HR4040）法規(guī)檢測(cè)（2009年8月實(shí)施）
【2008年8月14日，美議會(huì)第4040號(hào)提案（H.R.4040）生效，此法案對(duì)美國(guó)消費(fèi)品委員會(huì)（CPSC）進(jìn)行了重新*，大大加強(qiáng)了CPSC在保證美國(guó)消費(fèi)品安全中的作用，尤其是對(duì)兒童玩具及護(hù)理產(chǎn)品的要求達(dá)到了*的高度。H.R.4040有幾項(xiàng)重大變化：檢測(cè)范圍擴(kuò)大至玩具上任何可觸及材料；總鉛限呈逐級(jí)遞減，由600ppm，2009年8月14日起降至300ppm， 2011年8月14日降至100ppm。而兒童產(chǎn)品中油漆等表面涂層材料的要求更為嚴(yán)格，其總鉛*將在2009年8月14日后銳減至 90ppm。
H.R.4040不僅使玩具業(yè)會(huì)面臨更為嚴(yán)峻的法律環(huán)境，同時(shí)對(duì)玩具實(shí)驗(yàn)室也提出了更高的檢測(cè)要求。標(biāo)準(zhǔn)的提高對(duì)檢測(cè)儀器的靈敏度、精度、連續(xù)穩(wěn)定性也提出了更高的要求?！?nbsp;

連續(xù)穩(wěn)定性也提出了更高的要求?！?br />* ROHS檢測(cè)、RoHS & WEEE 指令分析、HR4040標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)應(yīng)對(duì)
* 氣溶膠顆粒濾膜
* 刑偵以及痕量分析
* 營(yíng)養(yǎng)添加劑
* 磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體

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