SA晶體測(cè)試系統(tǒng)250B-1

美國(guó)SAUNDERS公司已推出革命性之晶體測(cè)試設(shè)備　S&A250B-1晶體測(cè)試系統(tǒng)。S&A250B-1拋開(kāi)了傳統(tǒng)概念，以高科技SMD技術(shù)，將硬體濃縮成板卡置入電腦內(nèi)，軟體功能更是發(fā)揮超快速量測(cè)之極至。以下為S&A250B網(wǎng)路分析儀的優(yōu)異性能：

SA250B-2網(wǎng)絡(luò)分析儀

1.超快量測(cè)速度:一般參數(shù)量測(cè)只需0.1秒(< 100m秒)，DLD量測(cè)100個(gè)點(diǎn)只需1秒
(10m秒/點(diǎn))。寄生振蕩有多種掃描型式: Normal，Wide，Hi-Q X’tal，Ceramic Resonator，X’tal Blank，一般寄生振蕩量測(cè)只需0.3秒。

2.
三種FL量測(cè)方式:計(jì)算法Calculated FL，仿真法Measured FL，實(shí)體電容法
Physical load FL。

3.
使用Window作業(yè)平臺(tái)操作方便，全功能圖解軟體，可量測(cè)晶體及陶瓷諧振器；爾后在現(xiàn)有硬體基礎(chǔ)上，再選配升級(jí)軟體即可量測(cè)晶體濾波器。

4.
采用PC板卡插入電腦；兩通道量測(cè)配上不同測(cè)試座，可交替量測(cè)SMD及Leaded
晶體產(chǎn)品。

5.
量測(cè)資料可立即輸出(采開(kāi)放式資料庫(kù)聯(lián)機(jī)ODBC格式)供即時(shí)監(jiān)控及分析用。

6.
可做頻率及功率的掃描(如350A, 350B的Sweep & Plot功能)。

7.
系統(tǒng)在1MHz以上使用時(shí),校正速度快,短路, 50Ω及開(kāi)路校正袛需30秒。

8.
新增低頻晶體量測(cè);運(yùn)用150KΩ測(cè)試座,配合低頻量測(cè)軟體,可提升低頻晶體量測(cè)精度與速度. 如32.768KHz表晶量測(cè)。

SA250B-2網(wǎng)絡(luò)分析儀規(guī)格:

1.
量測(cè)頻率范圍:

.15KHz~220MHz.。

2.
頻率比對(duì)精度：±1PPM在串聯(lián)諧振。

3.
晶體功率:

0.1nW~1000μW (≦50 MHz)

0.1nW~500μW (>50MHz)

4.通道: A, B雙通道量測(cè)。

5.電腦選型: Pentium 4，Win10 Pro

帶+5V及3.3V電源，PCI卡槽電腦。

網(wǎng)絡(luò)分析儀一種能在寬頻帶內(nèi)進(jìn)行掃描測(cè)量以確定網(wǎng)絡(luò)參量的綜合性微波測(cè)量?jī)x器。全稱(chēng)是微波網(wǎng)絡(luò)分析儀。網(wǎng)絡(luò)分析儀是測(cè)量網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的一種新型儀器，可直接測(cè)量有源或無(wú)源、可逆或不可逆的雙口和單口網(wǎng)絡(luò)的復(fù)數(shù)散射參數(shù)，并以?huà)哳l方式給出各散射參數(shù)的幅度、相位頻率特性。自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析儀能對(duì)測(cè)量結(jié)果逐點(diǎn)進(jìn)行誤差修正，并換算出其他幾十種網(wǎng)絡(luò)參數(shù)，如輸入反射系數(shù)、輸出反射系數(shù)、電壓駐波比、阻抗（或?qū)Ъ{）、衰減（或增益）、相移和群延時(shí)等傳輸參數(shù)以及隔離度和定向度等。