概要

ITC57300動(dòng)態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)主機(jī)能配搭不同的測試頭對(duì)半導(dǎo)體器件如MOSFTs, IGBT, Diodes和其他Bipolar devices 雙極器件(需另配額外偏置電源和訂制個(gè)性板)等進(jìn)行非損毀性的測試。主機(jī)包含了所需的各項(xiàng)測試儀與軟件, 用于測試與分析阻性/感性開關(guān)時(shí)間，開關(guān)損耗，柵電荷，Trr/Qrr 和其他等測試。

各個(gè)測試頭雖然設(shè)計(jì)不同，但都能簡單快速的安置于主機(jī)上。各測試頭雖為某個(gè)參數(shù)測試而設(shè)計(jì)，但其搭配的個(gè)性板能重新裝配測試頭以配合不同類別的器件，封裝型號(hào)和器件電路等。

功能

· 測試電壓：Max1200V Vdc, 200A (短路測試 Isc Max:1000A)

· 時(shí)間測量：Min１ns

· 漏電流極限監(jiān)視

現(xiàn)有測試頭

ITC57210 - 功率器件MOSFETs,  P和N溝道開關(guān)時(shí)間測試頭，美軍標(biāo)MIL-STD-750, Method 3472.

ITC57220 - 功率器件MOSFETs 及二極管反向恢復(fù)Trr/Qrr測試頭, 美軍標(biāo)MIL-STD-750, Method 3473.

ITC57230 - 功率器件MOSFETs 柵電荷測試頭, 美軍標(biāo)MIL-STD-750, Method 3471.

ITC57240 - IGBT 感性負(fù)載開關(guān)時(shí)間測試頭, 美軍標(biāo)MIL-STD-750, Method 3477.

ITC57250 - 短路電流耐量測試頭, 美軍標(biāo)MIL-STD-750, Method 3479.

ITC57260 - 結(jié)電容/柵極等效電阻測試頭, 標(biāo)準(zhǔn) JEDEC Standard JESD24-11