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2011年8月15日上午10點(diǎn)，美國(guó)STI CEO John Bailey光臨在上海紫金山大酒店舉辦的STI上海技術(shù)研討會(huì)。并與現(xiàn)場(chǎng)的各大半導(dǎo)體廠家的工程師們現(xiàn)場(chǎng)溝通。
同時(shí)與會(huì)的代表有STI銷(xiāo)售代表Jack SHI, 美國(guó)Diodes 技術(shù)部總監(jiān) Robin Sun,長(zhǎng)電測(cè)試部 Hongjun Liu;美國(guó)Microsemi 技術(shù)部高工 Mr.Cai以及其他各大半導(dǎo)體公司的工程師們。
研討會(huì)主要圍繞ST5000系列測(cè)試機(jī)在功率器件方面的應(yīng)用展開(kāi)討論。
1.CURVE TRACE在功率器件失效分析中的應(yīng)用；
2.ST5000E在CP中的應(yīng)用演示；
3.ST5000E在FT中的應(yīng)用演示；
4.ST5000E在IQC部門(mén)做來(lái)料檢測(cè)的應(yīng)用；
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