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          行業(yè)產(chǎn)品

          • 行業(yè)產(chǎn)品

          東莞市力高大同自動(dòng)化設(shè)備有限公司


          NEW 阻抗分析儀ZA57630

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          參  考  價(jià)面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

          產(chǎn)品型號(hào)ZA57630

          品       牌

          廠商性質(zhì)其他

          所  在  地東莞市

          聯(lián)系方式:查看聯(lián)系方式

          更新時(shí)間:2024-05-22 11:58:46瀏覽次數(shù):66次

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          產(chǎn)品簡(jiǎn)介

          簡(jiǎn)  述: 從電子零件、半導(dǎo)體器件到材料的特性評(píng)價(jià),應(yīng)對(duì)多樣的阻抗測(cè)量需求 ● 基本精度 ±0.08% ● 頻率范圍 10 µHz~36 MHz ● 阻抗范圍 10 µΩ~100 GΩ (模式: IMPD-EXT)

          詳細(xì)介紹

            特點(diǎn)

            結(jié)合用途配備豐富的功能!
            以DUT特性的設(shè)定,支持高重現(xiàn)性且準(zhǔn)確的測(cè)量。
            準(zhǔn)確的評(píng)價(jià)基于實(shí)際使用的操作條件。

            電子零件、電子材料可能因測(cè)量頻率及施加的信號(hào)級(jí)別而表現(xiàn)出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發(fā)的頻率依賴性,二極管等半導(dǎo)體器件由于 DC 偏置疊加而產(chǎn)生特性變化。
            要評(píng)價(jià)真實(shí)的特性,重要的是頻率、AC 振幅和 DC 偏置的掃頻,在實(shí)際的操作條件下進(jìn)行測(cè)量。


            特點(diǎn)
            • 掃頻
            • 延遲功能
            • 標(biāo)記操作
            • 測(cè)量條件等的設(shè)定
            • 自動(dòng)高密度掃頻
            • 順序測(cè)量
            • 量程
            • 誤差校正
            • 圖表顯示

            豐富的功能

            • 共振點(diǎn)跟蹤測(cè)量
            • 相對(duì)介電常數(shù)測(cè)量
            • 外部基準(zhǔn)時(shí)鐘
            • 等效電路估算
            • 相對(duì)導(dǎo)磁率測(cè)量
            • 存儲(chǔ)器操作
            • 壓電常數(shù)計(jì)算
            • 比較器 / 處理器接口




            掃頻 頻率、AC 振幅、DC 偏置、零頻寬


            AC 振幅掃描
            AC amplitude sweep


            掃頻
            Frequency sweep


            DC 偏置掃頻
            DC bias sweep


            零頻寬

            不變更頻率、AC 振幅和 DC 偏置的參數(shù),按恒定的條件進(jìn)行測(cè)量,觀察不同時(shí)間的特性變化(橫軸:時(shí)間)


            也能應(yīng)對(duì)點(diǎn)測(cè)

            按恒定的頻率 /AC 振幅 /DC偏置進(jìn)行測(cè)量,以數(shù)值顯示測(cè)量結(jié)果。最多可以設(shè)定 6 個(gè)項(xiàng)目。
            與比較器功能組合,可以進(jìn)行篩選及判定是否合格。

            Also capable of spot measurements
            生產(chǎn)線內(nèi)的測(cè)量






            測(cè)量條件等的設(shè)定

            在 1 個(gè)界面內(nèi)直觀地進(jìn)行詳細(xì)設(shè)定


            設(shè)定項(xiàng)目(SETTING VIEW)
            Setting items (SETTING VIEW)


            設(shè)定圖表軸
            Graph axis setting


            設(shè)定頻率
            Frequency settings






            量程


            自動(dòng)量程

            監(jiān)視測(cè)量結(jié)果,同時(shí)自動(dòng)設(shè)定最合適的量程進(jìn)行測(cè)量。
            檢測(cè)到超過(guò)量程的外部噪聲或直流分量時(shí),重新設(shè)定為更大的量程并重新測(cè)量。測(cè)量數(shù)據(jù)的變化大時(shí)啟用。


            固定量程

            量程固定,因此不會(huì)產(chǎn)生因量程變化引發(fā)的測(cè)量值不連續(xù)(段差)。





            延遲功能

            如果在掃描過(guò)程中變更了頻率、AC 振幅等掃描參數(shù),則瞬態(tài)響應(yīng)將導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)誤差。參數(shù)變更后,可以延遲開(kāi)始測(cè)量的時(shí)間。延遲包括“延遲開(kāi)始測(cè)量"和“延遲測(cè)量",前者在開(kāi)始測(cè)量時(shí)延遲,后者在掃描過(guò)程中每次變更參數(shù)時(shí)延遲。






            自動(dòng)高密度掃頻

            在掃頻測(cè)量中,本功能限定在測(cè)量數(shù)據(jù)突變的區(qū)間自動(dòng)提高頻率密度進(jìn)行測(cè)量。
            在壓電振蕩器、晶體振蕩器等的共振特性測(cè)量中,本功能在相位急劇變化的共振附近的測(cè)量中啟用。






            誤差校正

            為進(jìn)行準(zhǔn)確的評(píng)價(jià),需根據(jù)測(cè)量誤差因子進(jìn)行校正。


            為進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量,需適當(dāng)校正殘余阻抗、電纜長(zhǎng)度等各種測(cè)量誤差因子。


            開(kāi)路校正

            減少因殘余導(dǎo)納引起的誤差


            短路校正

            減少因殘余阻抗引起的誤差


            負(fù)載校正

            以具有已知值的試樣作為標(biāo)準(zhǔn)阻抗,校正與真值的偏差


            端口延長(zhǎng)

            使用長(zhǎng)電纜時(shí),校正因傳輸延遲時(shí)間而產(chǎn)生的相位誤差


            電位梯度消除

            消除測(cè)量信號(hào)所含的電位波動(dòng)波形的影響。在由于電池等的充放電會(huì)引起電位變化的試樣的測(cè)量中啟用


            補(bǔ)償

            預(yù)先測(cè)量連接到外部的傳感器、電纜等測(cè)量系統(tǒng)的頻率特性,校正測(cè)量系統(tǒng)的誤差成分


            輸入加權(quán)碼

            校正探頭的衰減量及前置放大器的增益


            自行校準(zhǔn)

            校正自身誤差





            標(biāo)記操作

            本功能用于讀取所顯示的圖表中 X、Y1、Y2 的測(cè)量值。
            最多可使用 8 個(gè)標(biāo)記。


            Δ標(biāo)記 顯示與基準(zhǔn)標(biāo)記(標(biāo)記 1)的差異


            ΔTRKG 標(biāo)記

            與Δ標(biāo)記同樣顯示差異,移動(dòng)到標(biāo)記 1 時(shí),保持恒定的掃描值差異,同時(shí)進(jìn)行移動(dòng)


            標(biāo)記搜索功能

            可自動(dòng)搜索與設(shè)定條件一致的點(diǎn)

            Marker search function






            順序測(cè)量

            本功能預(yù)先設(shè)定多項(xiàng)所需的測(cè)量條件,按照該條件依次進(jìn)行測(cè)量。最多可將掃描范圍分割成 32 部分,各范圍內(nèi)按照不同的測(cè)量條件進(jìn)行測(cè)量。
            可高效地測(cè)量因電壓值而使特性發(fā)生變化的多層陶瓷電容器(MLCC)、電感器及變壓器等器件。






            圖表顯示


            SINGLE 顯示 /SPLIT 顯示

            外觀尺寸

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