泰思肯集成礦物分析儀 TIMA-X（GM）

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更新時間：2024-06-21 11:08:56瀏覽次數(shù)：100次

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廈門質匯科技有限公司

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產品簡介

詳細介紹

背散射電子圖像分辨率：3.0 nm @ 30keV（低真空模式）
二次電子圖象分辨率：3.0 nm @ 30keV
加速電壓：0.2~30 kV
放大倍數(shù)：2~1,000,000 x
儀器種類：鎢燈絲

TESCAN集成式礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應用范圍很寬，包括礦石性質、工藝優(yōu)化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的技術是基于一個集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術提供了的數(shù)據(jù)采集速度，進而得到快速、準確和可靠的結果。

TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設計（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統(tǒng)提供高真空模式為標準，低真空模式為選配。
大樣品室、由計算機控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設計。樣品臺可以同時容納7塊直徑為30mm的樣品。樣品臺內可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準標準、鉑Faraday筒（BSE信號校準）與錳、銅、石英、碳和金元素（系統(tǒng)性能檢查）。標準校準的元素可以根據(jù)客戶要求定制。

軟件標配：
分析&測量
柱狀圖
圖像處理
3維掃描
硬度測量
多圖像校準
對象區(qū)域
定時關機
公差測量
定位
Live Video
EasySEMTM

軟件選配：
根據(jù)實際配置和要求
配件：
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測量
壓差式防碰撞報警裝置
可觀察樣品室內部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇