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          行業(yè)產(chǎn)品

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          柯岷國際貿(mào)易(上海)有限公司


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          全自動型原子力顯微鏡 AFM5500M

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          參  考  價面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

          產(chǎn)品型號

          品       牌

          廠商性質(zhì)其他

          所  在  地上海市

          聯(lián)系方式:宋先生查看聯(lián)系方式

          更新時間:2024-06-18 10:14:12瀏覽次數(shù):109次

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          產(chǎn)品簡介

          AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高,配備4英寸自動馬達(dá)臺的全自動型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換,激光對中,測試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測量精度大幅提高。并且,通過SEM-AFM共享坐標(biāo)樣品臺可輕松實現(xiàn)同一視野的相互觀察?分析。

          詳細(xì)介紹

           1. 自動化功能

          高度集成自動化功能追求高效率檢測

          降低檢測中的人為操作誤差

          4英寸自動馬達(dá)臺     自動更換懸臂功能

                                  4英寸自動馬達(dá)臺                                                自動更換懸臂功能


          ◆ 2. 可靠性

          排除機(jī)械原因造成的誤差

          image.png 大范圍水平掃描

          采用管型掃描器的原子力顯微鏡,針對掃描器圓弧運動所產(chǎn)生的曲面,通常通過軟件校正方式獲得平面數(shù)據(jù)。但是,用軟件校正方式不能消除掃描器圓弧運動的影響,圖片上經(jīng)常發(fā)生扭曲效果。

          AFM5500M搭載了新研發(fā)的水平掃描器,可實現(xiàn)不受圓弧運動影響的準(zhǔn)確測試。

          Sample :Amorphous silicon thin film on a silicon substrate

                                    Sample :Amorphous silicon thin film on a silicon substrate


          image.png 高精角度測量

          普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器,在豎直伸縮的時候,會發(fā)生彎曲(crosstalk)。這是圖像在水平方向產(chǎn)生形貌誤差的直接原因。

          AFM5500M中搭載的全新掃描器,在豎直方向上不會發(fā)生彎曲(crosstalk) ,可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。

          Textured-structure solar battery

          Sample : Textured-structure solar battery(having symmetrical structure due to its crystal orientation.)

          * 使用AFM5100N(開環(huán)控制)時


          ◆ 3. 融合性

          親密融合其他檢測分析方式

          通過SEM-AFM的共享坐標(biāo)樣品臺,可實現(xiàn)在同一視野快速的觀察?分析樣品的表面形貌,結(jié)構(gòu),成分,物理特性等。

          Correlative AFM and SEM Imaging

          SEM-AFM在同一視野觀察實例(樣品:石墨烯/SiO2)

          The ovrlay images createed

                    The ovrlay images createed by using AZblend Ver.2.1, ASTRON Inc.


          上圖是AFM5500M拍攝的形狀像(AFM像)和電位像(KFM像)分別和SEM圖像疊加的應(yīng)用數(shù)據(jù)。

          image.png 通過分析AFM圖像可以判斷,SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。

          image.png 石墨烯層數(shù)不同導(dǎo)致表面電位(功函數(shù))的反差。

          image.png SEM圖像對比度不同,可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。

          今后計劃與其他顯微鏡以及分析儀器的聯(lián)用。

           AFM5500M 主機(jī)

          image.png

          * 參數(shù)與設(shè)備配置及放置環(huán)境相關(guān)。


          AFM5500M 專用原子力顯微鏡工作站

          image.png

          * WINDOWS 是、美國 Microsoft Corporation 在美國及美國以外國家注冊商標(biāo)。

          * RealTune是日立高新科學(xué)公司在日本、美國以及歐洲的注冊商標(biāo)。


          選配項:SEM-AFM聯(lián)用系統(tǒng)

          image.png


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