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Sinton少子壽命測試儀 BCT400/BLS-1

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更新時間：2024-03-13 17:40:54瀏覽次數(shù)：503次

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蘇州上器試驗設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡介

不用接觸就可以簡單準(zhǔn)確地測量原生或成型硅塊的真實壽命。與半導(dǎo)體工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)PV(光伏）－13相符合。

詳細介紹

操作簡單、靈敏度高

BLS-I and BCT-400測量系統(tǒng)對于單晶硅或多晶硅（硅錠或硅塊）不需要進行表面鈍化就可以進行壽命測量。因為壽命測量是描述生長特征和污染缺陷靈敏度的技術(shù)，這些工具允許你評估硅生長后的質(zhì)量。

性能*

非接觸方式量測真正意義上的硅塊少子壽命，符合SEMI的PV13標(biāo)準(zhǔn)；相比業(yè)界其他少子壽命測試儀BLS-I/BCT系列是性能更*的少子壽命測試儀。

多型號選擇

如果想要設(shè)備能夠測量多種的表面類型（150mm直徑到平滑的）請選BLS-1.如果是僅需要測量平滑表面，請選擇BCT-400.

BCT400/BLS-1應(yīng)用

廠商品質(zhì)監(jiān)控常見的測量設(shè)備，擁有廣泛客戶群

?測量壽命在1-5ms(豪秒）范圍內(nèi)的高純度硅

?測量沒有進行特殊表面處理的原生直拉硅

?測量多晶硅塊的壽命和俘獲濃度

?探測氧化硼缺陷，鐵污染，和表面損害

?測試直拉硅，區(qū)熔硅，多晶硅或高純冶金硅的初始原料質(zhì)量

項目	內(nèi)容
測量參數(shù)	少子壽命、電阻率、陷阱密度
可測量的少子壽命范圍	0.1us-10ms
可測量的電阻率范圍	0.5-300ohm.cm
分析模式	準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)方法少子壽命分析瞬態(tài)方法少子壽命分析一般方法少子壽命分析
可施加的用于修正陷阱的偏執(zhí)光范圍	0-50suns
可以測量的樣品的表面類型	表面為平的硅塊樣品（BCT-400）表面不平整的硅塊樣品（BLS-I）不平整弧度的直徑可達150mm
光源光譜	白光和紅外光
感應(yīng)器的面積	45cm*45cm
可測量深度	3mm