概述：

A200型IGBT動態(tài)測試用數(shù)據(jù)采集卡，是一款普賽斯自主設(shè)計(jì)開發(fā)的插卡式，支持可變速率采樣和大容量數(shù)據(jù)存儲的高精度數(shù)據(jù)采集卡。

采集卡采用高性能ADC芯片，分辨率可達(dá)10bits，最高支持2.5G/s采樣率。單采集卡支持2通道。采集卡可應(yīng)用于我司3插卡或10插卡主機(jī)上，單主機(jī)最高支持20通道。

產(chǎn)品具有采樣速度快，分辨率高，支持多種觸發(fā)、大容量高速數(shù)據(jù)存儲等特點(diǎn)，因此，可廣泛應(yīng)用于各類型實(shí)時(shí)波形捕獲、IGBT動態(tài)測試，以及其他工業(yè)場景等數(shù)據(jù)采集。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

插卡式設(shè)計(jì)，2通道/插卡，最高支持20通道

10位A/D分辨率

支持高速率采樣，最高可達(dá)2.5G/s采樣率

支持大容量數(shù)據(jù)存儲

采集精度高，多電壓量程

軟件兼容性廣，支持Labview，C/C++等

應(yīng)用領(lǐng)域：

各類型實(shí)時(shí)波形捕獲、IGBT動態(tài)測試，以及其他工業(yè)場景等數(shù)據(jù)采集

普賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向，深耕半導(dǎo)體測試領(lǐng)域，在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)，先后推出了直流源表，脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)、大功率激光器老化測試系統(tǒng)等測試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于高校研究所、實(shí)驗(yàn)室，新能源，光伏，風(fēng)電，軌交，變頻器等場景。更多有關(guān)IGBT動態(tài)測試用數(shù)據(jù)采集卡詳情找普賽斯儀表專員為您解答