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MiniSIMS二次離子質(zhì)譜儀

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產(chǎn)品簡介

詳細(xì)內(nèi)容SIMS個(gè)主要的特征是對表面（固定SIMS）的固定區(qū)域的原位分析

詳細(xì)介紹

詳細(xì)內(nèi)容

SIMS個(gè)主要的特征是對表面（固定SIMS）的固定區(qū)域的原位分析。掃描聚焦探測光束（影像SIMS）生成個(gè)表面成分圖僅需幾鐘（而不是幾分鐘）。延展的分析通過深度刻蝕表面而顯示表層下面變化的組成（動態(tài)SIMS）。所有這些能在只需少量而不需任何樣品準(zhǔn)備的情形下操作成功，并且具有高靈敏度，同時(shí)可使分析時(shí)間降至短。

Millbrook MiniSIMS是在個(gè)緊湊的半開式可移動中開發(fā)的SIMS功能技術(shù)。僅需個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的主電源以供操作，放置為方便。的計(jì)算機(jī)控制使得操作簡便，并且自動獲得數(shù)據(jù)。通過英特網(wǎng)的遠(yuǎn)距離控制使您使用SIMS更為方便。

MiniSIMS使得室內(nèi)表面分析儀器，在很大范圍的情形下成為種操作簡便經(jīng)濟(jì)實(shí)用的方式，低成本的資金和維護(hù)費(fèi)用以及高的樣品產(chǎn)出，意味著每個(gè)樣品的總費(fèi)用要比使用傳統(tǒng)的SIMS儀器減少90%

二次質(zhì)譜儀（SIMS）是沿的表面分析技術(shù)。確立于40多年，它揭示了表面和近表面的原子層的化學(xué)組成。這種信息遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了為鑒定有機(jī)組成部分的分子結(jié)構(gòu)所需的簡單元素分析。

應(yīng)用：

單分子層水平表面信息　　薄膜縱剖面分析

所有元素檢測　　　　　　有機(jī)物質(zhì)鑒定

表面污染鑒定高靈敏度分析

快速化學(xué)組分成像等表面分析域

關(guān)鍵詞：表面分析儀質(zhì)譜儀

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