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X射線熒光元素分析儀 EA6000VX

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

對(duì)于管理基板整面上的有害物質(zhì)，以及針對(duì)微小部位的測(cè)定等以前的裝置對(duì)應(yīng)比較困難的要求，EA6000VX都能做到

詳細(xì)介紹

對(duì)于管理基板整面上的有害物質(zhì)，以及針對(duì)微小部位的測(cè)定等以前的裝置對(duì)應(yīng)比較困難的要求，EA6000VX都能做到。

■主要特點(diǎn)

●快速掃描

憑借150萬(wàn)CPS的高計(jì)數(shù)率檢測(cè)器完成高靈敏度的測(cè)量，以及借助250 mm×200 mm范圍掃描的快速電動(dòng)樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)快速掃描測(cè)量。對(duì)于范圍為100 mm×100 mm的情況，可在2～3分鐘內(nèi)檢測(cè)出端子部分的鉛并確定其位置。

●連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量

最多可500個(gè)測(cè)量位置進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。由于采用自動(dòng)測(cè)量方式，因此在測(cè)量大量樣品是，也可發(fā)揮高效率。

●高精密重合

通過(guò)Telecentric Lens 系統(tǒng)和高速・高精度XY平臺(tái)，將元素掃描像和光學(xué)成像進(jìn)行重合對(duì)微小部品的中心部分的目標(biāo)元素也能進(jìn)行簡(jiǎn)單觀察。250 mm×200 mm上方觀察，并且能夠?qū)崿F(xiàn)廣域位置最小誤差為100 μm以內(nèi)的精確定位。

●微小部位測(cè)量

在FT系列中被的測(cè)量鍍膜膜厚儀器就是由EA6000VX。不用說(shuō)極薄的鍍金等膜厚測(cè)量，即便是在進(jìn)行鍍膜鐘所含的Pb等有害物質(zhì)分析的膜壓測(cè)量的同時(shí)也可進(jìn)行膜厚測(cè)量。比如也可進(jìn)行無(wú)鉛焊錫鍍層及引線框架上Sn鍍層，無(wú)電解Ni鍍膜中所含的有害物質(zhì)的濃度測(cè)量。

●環(huán)境中限制物的測(cè)量

RoHS等限制物的高靈敏度測(cè)量，短時(shí)間內(nèi)測(cè)出樹(shù)脂、金屬等中含有的微量環(huán)境限制物。對(duì)復(fù)合樣品也可專注到特定部位進(jìn)行測(cè)量。

●輕元素測(cè)量

通過(guò)安裝充氦選購(gòu)項(xiàng)，可以分析鈉開(kāi)始的輕元素。測(cè)量中能夠獨(dú)立運(yùn)轉(zhuǎn)的氦氣系統(tǒng)。將使用成本降低。

●透視掃描機(jī)能

筆記本、手機(jī)等不能透過(guò)外包裝看到內(nèi)部構(gòu)造的產(chǎn)品，無(wú)需拆解就可得到不僅僅是基板上的Pb，甚至其他各種元素的掃描圖。通過(guò)比較X射線照射后得到的元素掃描圖像，可以了解關(guān)于產(chǎn)品內(nèi)部部件構(gòu)造的各種情報(bào)。

●異物檢測(cè)EA6000VX

EA6000VX通過(guò)快速掃描功能可以在幾分中內(nèi)檢測(cè)出寬廣范圍（250 mm×200 mm）內(nèi)含有的幾十 μm的微小金屬異物，并查明其具體位置。也可檢測(cè)出樹(shù)脂等有機(jī)物內(nèi)部還有的微小、微量金屬異物。

●安全、安心的操作性

自動(dòng)接近、防止沖撞功能操作臺(tái)上樣品一旦設(shè)定好啟動(dòng)后，自動(dòng)測(cè)量出樣品的高度，移動(dòng)到的測(cè)量高度。即便是復(fù)雜形狀的樣品，操作員也可輕松測(cè)量。另外，即便通過(guò)操作指南調(diào)整了測(cè)量高度，由于安裝了防止沖撞傳感器，因此不會(huì)使樣品受到損傷。