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EIGER2 X CdTe混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器

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產(chǎn)品型號(hào)EIGER2 X CdTe

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北京泰坤工業(yè)設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

EIGER2 X CdTe混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器

詳細(xì)介紹

1、產(chǎn)品特點(diǎn)：

第四代同步加速器的技術(shù)：

EIGER2 X CdTe探測(cè)器是為在高能量段需要高分辨率和高幀速率的科學(xué)家設(shè)計(jì)的。單個(gè)像素尺寸僅為75µm，可檢測(cè)的光子能量高達(dá)100 keV。由于死時(shí)間為零，所以每幀之間不會(huì)丟失光子。雙能量閾值可以在兩個(gè)能量段之間做剪影或減少高能量段的背景噪音。第二個(gè)能量鑒別閾值允許你在兩個(gè)能量箱中成像你的樣本，或削減更高的諧波以減少背景。計(jì)數(shù)速率高達(dá)107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探測(cè)器性能優(yōu)異且易于集成和操作。

2、核心優(yōu)勢(shì)：

– 量子效率高、能量范圍高達(dá)100KeV

– 沒有圖像延遲或余輝

– 計(jì)數(shù)速率高達(dá)10⁷光子/秒/像素

– 兩個(gè)能量閾值

– 電子門控觸發(fā)

– 有效面積大

3、應(yīng)用領(lǐng)域：

– x射線衍射(單晶和粉末)

– 現(xiàn)場(chǎng)和原位技術(shù)

– 衍射顯微鏡和層析成像

– 漫散射和對(duì)分布函數(shù)

4、技術(shù)參數(shù)：

EIGER2 X CdTe	500K	1M	4M	9M	16M
探測(cè)器模塊數(shù)量	1	1 x 2	2 x 4	3 x 6	4 x 8
有效面積：寬x高 [mm2]	77.2 x 38.6	77.2x 79.9	155.2 X 162.5	233.2 X 245.2	311.2 X 327.8
像素大小 [μm2]	75 x 75
能量閾值	2
計(jì)數(shù)率[光子/秒/像素]	10⁷
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)	1 pixel
CdTe厚度[μm]	450
數(shù)據(jù)格式	HDF5 / NeXus
幀速率 [Hz]	2000	2000	500	230	130
尺寸（WHD）[mm³]	114 x 92 x 242	114 x 133 x 242	235 x 237 x 372	340 × 370 × 500	400 × 430 × 500
重量 [kg]	3.3	4.7	15	41	55