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          深圳市科時達電子科技有限公司


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          布魯克 Bruker PI 89 掃描電鏡納米壓痕儀

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          產品型號

          品       牌

          廠商性質其他

          所  在  地深圳市

          聯(lián)系方式:林經理查看聯(lián)系方式

          更新時間:2022-10-22 12:12:24瀏覽次數(shù):227次

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          經營模式:其他

          商鋪產品:51條

          所在地區(qū):

          聯(lián)系人:林經理

          產品簡介

          The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術,繼承了市場的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學性能成像等功能。

          詳細介紹

           The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術,繼承了市場的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學性能成像等功能。


          控制和性能

          具有固有的位移控制,位移范圍從<1nm to 150µm,業(yè)界的力范圍從<1µN to 3.5N,和78kHz的反饋速率和39kHz的數(shù)據(jù)采集速率,從而記錄各種瞬態(tài)事件。


          Hysitron PI 89的緊湊設計允許的樣品臺傾斜,以及測試時成像的最小工作距離。PI 89為研究者提供了比競爭產品更廣闊的適用性和性能:

          • 重新設計的結構增加適用性和易用性 
          • 1 nm精度的線性編碼器實現(xiàn)更大范圍下更好的自動測試定位重復性
          • 更高的框架剛度(~0.9 x 106 N/m)提供測試過程更好的穩(wěn)定性
          • 兩種旋轉/傾斜模式實現(xiàn)城鄉(xiāng)、FIB加工、以及各種探測器的聯(lián)用,包括EDS, CBD, EBSD, and TKD等。


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