冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)2

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更新時間：2022-11-22 11:25:45瀏覽次數(shù)：499次

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產(chǎn)品簡介

冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)2

詳細介紹

儀器照片
儀器名稱	冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡
儀器型號	S 4800
生產(chǎn)廠家	日本Hitachi公司
技術參數(shù)	1) 高分辨率FE-SEM對下列材料進行解析時具有一定的效果 2) 對電子材料表面形狀的高分辨率觀察(5nm以下) 3) 對高分子復合材料的低加速電壓低損傷觀察 4) 對納米材料表面／內(nèi)部結構的相輔性觀察
適用領域	1) 廣泛地應用于各種金屬材料和非金屬材料的檢驗和研究 2) 在材料科學研究、金屬材料、化學材料、半導體材料、陶瓷材料等多個領域可以進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，材料斷口分析和失效分析 3) 各種材料的形貌組織觀察；材料實時微區(qū)成分分析 4) 快速的多元素面掃描和線掃描分布測量；晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量 5) 元素定量、定性成分分析 6) 晶體、晶粒的相鑒定
檢測案例
檢測案例
樣品要求	1) 請根據(jù)自己樣品的性質及測試需求，自行查閱相關資料后，提供詳細的測試條件（電壓、電流、信號、放大倍數(shù)、標尺、理想的照片等） 2) 樣品量不少于30mg?？梢越邮芄腆w、粉末、薄膜或纖維樣品 3) 潮濕的樣品不能測試。有機的樣品需要具體溝通