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          上海良允科學(xué)儀器有限公司


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          掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(SNOM)

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          產(chǎn)品型號(hào)alpha300 S

          品       牌

          廠商性質(zhì)其他

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          更新時(shí)間:2022-10-16 09:49:25瀏覽次數(shù):385次

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          產(chǎn)品簡(jiǎn)介

          傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的空間分辨率受限于光學(xué)衍射極限,分辨率為波長(zhǎng)的一半λ/2

          詳細(xì)介紹

          傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的空間分辨率受限于光學(xué)衍射極限,分辨率為波長(zhǎng)的一半λ/2。掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 (SNOM或NSOM) 則可以突破衍射極限,實(shí)現(xiàn)了60-100nm的超高光學(xué)空間分辨率。近場(chǎng)光學(xué)技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域非常廣,無(wú)需特殊樣品制備。


          WITec公司的 alpha300 S近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡采用硅基中空懸臂式近場(chǎng)探針,輕松實(shí)現(xiàn)超衍射極限的光學(xué)成像。在近場(chǎng)光學(xué)圖像采集的過(guò)程中,可同時(shí)獲得樣品的AFM表面形貌,實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)光學(xué)信息與樣品形貌的相關(guān)分析。WITec近場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)采用成熟穩(wěn)定的AFM激光偏轉(zhuǎn)反饋系統(tǒng)同來(lái)控制探針與樣品之間的距離。


          與熒光技術(shù)聯(lián)用,近場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)單分子檢測(cè)。


          超高分辨顯微鏡

          alpha300 S近場(chǎng)顯微鏡是一種純近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡,在很多樣品上都可獲得一致的超高分辨率,并且擁有透射與反射式兩種模式。 該近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡,如 STED 和 STORM,后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源。


          alpha300 S系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動(dòng)進(jìn)針及調(diào)節(jié)等自動(dòng)測(cè)試流程,操作非常簡(jiǎn)便、直觀。


          SNOM近場(chǎng)模式采用特定的顯微物鏡,便于探針安裝與定位。alpha300 S顯微鏡不僅與所有AFM工作模式兼容,還可以配備透射、反射及熒光等標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)模式。


          由于近場(chǎng)光學(xué)信號(hào)極其微弱,alpha300 S近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡配備高靈敏單光子計(jì)數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管,并同時(shí)提供檢測(cè)器快速超載保護(hù)。更重要的是,UHTS光譜儀可與alpha300 S系統(tǒng)兼容,實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)光譜與成像測(cè)量。


          WITec 的 SNOM 懸臂技術(shù)


          [A] SNOM探針和樣品的光學(xué)圖像(俯視圖)

          [B] 探針側(cè)視圖

          [C] SNOM探針的SEM圖像

          [D] SNOM探針的小孔SEM圖像

          [E] 批量生產(chǎn)的SNOM探針


          關(guān)鍵特性

          · 突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率(橫向約 60 nm)

          · 的SNOM探針技術(shù)

          · 在空氣與液體中均可使用

          · 包含多種原子力與光學(xué)顯微鏡模式

          · 非破壞性、無(wú)需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù),基本不需要樣品制備

          · 可升級(jí)到關(guān)聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場(chǎng)拉曼成像

          · 集成三種技術(shù)到一臺(tái)儀器上:共聚焦顯微鏡、AFM 和SNOM



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