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D8 ADVANCE X射線衍射儀

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福州精科儀器儀表有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

D8*是一個(gè)真正快速變化的藝術(shù)家，可以配置為承擔(dān)單一的分析任務(wù)，重點(diǎn)和專用組件，或一個(gè)功能齊全的，多用途的解決方案，能夠處理非常多樣化的分析需求和的能力

詳細(xì)介紹

D8*是一個(gè)真正快速變化的藝術(shù)家，可以配置為承擔(dān)單一的分析任務(wù)，重點(diǎn)和專用組件，或一個(gè)功能齊全的，多用途的解決方案，能夠處理非常多樣化的分析需求和的能力。

我們的DaVinci設(shè)計(jì)確保了所有這些解決方案--簡(jiǎn)單的(重新)配置和可擴(kuò)展性--能夠準(zhǔn)確地滿足您現(xiàn)在和將來的分析需求。

多用途解決方案

D8*生態(tài)系統(tǒng)

全尺寸測(cè)角儀級(jí)粉末XRD在環(huán)境和非環(huán)境條件下

D8前進(jìn)雙子

在環(huán)境和非環(huán)境條件下，按按鈕切換為非晶態(tài)和多晶薄膜分析的粉末X射線衍射性能。

D8預(yù)支加

在環(huán)境和非環(huán)境條件下，包括外延薄膜在內(nèi)的所有樣品都有的XRD溶液。

專用解決方案

D8推進(jìn)X射線衍射

的xrd 2解決方案可以在2 Theta和Gamma方向收集數(shù)據(jù)，以提供關(guān)于晶體樣品性能的額外信息。

D8提前應(yīng)激

依靠專家的XRD解決方案，以測(cè)量應(yīng)力和織構(gòu)在機(jī)械零件，塊體和薄膜樣品。

結(jié)構(gòu)分析的D8進(jìn)展

應(yīng)用X射線粉末衍射(XRPD)提取結(jié)構(gòu)信息Rietveld(Topas)分析、擴(kuò)散或“總"散射(PDF分析)和小角度X射線散射(SAXS)。

動(dòng)態(tài)梁優(yōu)化

動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化(DBO)提供類粉末衍射數(shù)據(jù)，通過在計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)和峰值-背景比方面設(shè)置新的基準(zhǔn)，所有這些都不需要人工儀器重新配置。

D8與DBO的進(jìn)展

基于粉末衍射數(shù)據(jù)質(zhì)量的動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化設(shè)計(jì)

高速能量色散LYNXEE-XE-T探測(cè)器地將快速數(shù)據(jù)采集與的熒光過濾和Kβ輻射結(jié)合在一起。它的自主可變主動(dòng)探測(cè)器窗口和機(jī)動(dòng)防散射屏(質(zhì)量)使數(shù)據(jù)采集從的第2角度，而不寄生低角度背景散射，特別是空氣散射。全自動(dòng)質(zhì)量收縮避免了光束剪切，甚至與連續(xù)可變狹縫結(jié)合在一起，提供了整個(gè)角度范圍內(nèi)的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

· 的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)可以更快地收集數(shù)據(jù)和增加樣本吞吐量。

· 無寄生的低角度背景散射能大幅度提高制藥、粘土、沸石等大單元樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。

· 的峰值到背景增強(qiáng)了小相位的靈敏度。

· 定量晶態(tài)和非晶相DIFFRAC.TOPAS

機(jī)動(dòng)防散射屏

刀邊位置自動(dòng)優(yōu)化，以實(shí)現(xiàn)限度地抑制寄生散射，同時(shí)不裁剪光束在任何角度第2。

利用DBO提高數(shù)據(jù)質(zhì)量

NISTSRM 8486(普通波特蘭熟料)沒有(藍(lán)色掃描)和機(jī)動(dòng)防散射屏幕(紅色掃描)。所有其他測(cè)量條件保持相同。

三合一

三層™光學(xué)是D8進(jìn)度表的關(guān)鍵部件，滿足了三種的X射線衍射幾何圖形在一種光學(xué)中的儀器分辨率的具體要求：

· 傳統(tǒng)粉末衍射發(fā)散光束(XRPD)

· 毛細(xì)管實(shí)驗(yàn)用高強(qiáng)度平行光束，高度不敏感測(cè)量，表面敏感掠入射幾何，涂層厚度測(cè)定(Xrr)和微衍射(μxrd)。

· 用于外延薄膜和低對(duì)稱粉末樣品高分辨衍射的純Cu-Kα1平行光束

D8*加三光學(xué)

考慮到用戶的充分方便，三光功能在三種主要光束幾何之間的機(jī)動(dòng)切換和軟件控制的儀器對(duì)齊，而無需手動(dòng)用戶干預(yù)，通過的Smart杯b。TM情報(bào)。

掠入射幾何

多晶薄膜衍射的掠入射幾何

XRR幾何

XRR測(cè)定從0.1 nm到250 nm的薄膜厚度

布拉格-布倫塔諾幾何

用于粉末衍射的布拉格-布倫塔諾幾何

HRXRD幾何

2-反射通道切割單色儀在外延樣品上提供高強(qiáng)度的高分辨率

達(dá)芬奇設(shè)計(jì)-不妥協(xié)的易用性

達(dá)芬奇設(shè)計(jì)是D8前進(jìn)作為一個(gè)的模塊化系統(tǒng)的里程碑。從X射線管，通過光學(xué)和樣品階段一直到探測(cè)器，任何用戶--甚至是新手--都能夠從一種光束幾何學(xué)改變到另一種光束幾何形狀，或者可以毫無困難地交換單個(gè)組件。因此，我們的D8*技術(shù)為X射線衍射的任何可能應(yīng)用提供了的適應(yīng)性。