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斯派克臺(tái)式偏振X射線熒光光譜儀－SPECTRO XEPOS

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德國(guó)斯派克分析儀器公司開(kāi)發(fā)出了一種極其成功的技術(shù)，把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析

詳細(xì)介紹

德國(guó)斯派克分析儀器公司開(kāi)發(fā)出了一種極其成功的技術(shù)，把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時(shí)偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種*的分析技術(shù)已成為實(shí)驗(yàn)室測(cè)定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù)，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺(tái)式偏振X射線熒光光譜儀。

SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件，可獲得的靈敏度和準(zhǔn)確性。采用偏振次級(jí)靶以確保激發(fā)，12位樣品自動(dòng)交換器，預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

SPECTRO XEPOS配有預(yù)先安裝好的應(yīng)用包，包括：在工廠預(yù)先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析：土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測(cè)等。