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更新時(shí)間：2022-10-14 10:11:25瀏覽次數(shù)：252次
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Apreo 復(fù)合透鏡結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生的高分辨率和材料對比度。Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，而不會(huì)降低磁性樣品性能。傳統(tǒng)的高分辨率 SEM 透鏡技術(shù)分為兩類：磁浸沒或靜電。FEI 將兩種技術(shù)結(jié)合到一個(gè)儀器中。這樣做所產(chǎn)生的成效遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過任一種鏡筒的個(gè)體性能。兩種技術(shù)均使電子束形成細(xì)小探針，以提高低電壓下的分辨率，并使信號電子進(jìn)入鏡筒。通過將磁透......
Apreo 復(fù)合透鏡結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生的高分辨率和材料對比度。Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，而不會(huì)降低磁性樣品性能。傳統(tǒng)的高分辨率 SEM 透鏡技術(shù)分為兩類：磁浸沒或靜電。FEI 將兩種技術(shù)結(jié)合到一個(gè)儀器中。這樣做所產(chǎn)生的成效遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過任一種鏡筒的個(gè)體性能。兩種技術(shù)均使電子束形成細(xì)小探針，以提高低電壓下的分辨率，并使信號電子進(jìn)入鏡筒。通過將磁透鏡和靜電透鏡組合成一個(gè)復(fù)合透鏡，不但提高了分辨率，還增加了*的信號過濾選項(xiàng)。靜電-磁復(fù)合末級透鏡在 1 kV 電壓下的分辨率為 1.0 nm（無電子束減速或單色器）。Apreo 擁有透鏡內(nèi)背散射探測器 T1，其位置緊靠樣品以便盡可能多地收集信號，從而確保在很短的時(shí)間內(nèi)采集數(shù)據(jù)。每個(gè) Apreo 都按標(biāo)準(zhǔn)配備各種用以處理絕緣樣品的策略，包括：高真空技術(shù)，例如 SmartSCAN™、漂移補(bǔ)償幀積分(DCFI) 和電荷過濾。對于挑戰(zhàn)性的應(yīng)用，Apreo 可提供電荷緩解策略。隨著分析技術(shù)的使用越來越常規(guī)化，Apreo 倉室經(jīng)過全新設(shè)計(jì)，以便更好地支持不同的配件和實(shí)驗(yàn)。倉室最多容納三個(gè) EDS/WDS 端口，可實(shí)現(xiàn)快速敏感的 X 射線測量、共面EDS/EBSD/TKD 排列并與（冷凍）CL、拉曼、EBIC 和其他技術(shù)兼容。
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