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電子探針-面分析

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更新時(shí)間：2022-10-09 09:45:20瀏覽次數(shù)：205次

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測(cè)試項(xiàng)目：電子探針測(cè)試對(duì)象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測(cè)試周期：5-10個(gè)工作日，可提供樣品測(cè)試加急服務(wù)

詳細(xì)介紹

測(cè)試項(xiàng)目：電子探針
測(cè)試對(duì)象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片
測(cè)試周期：5-10個(gè)工作日，可提供樣品測(cè)試加急服務(wù)。
送樣要求：1、靶、探針片等樣品表面平整、光滑，避免影響數(shù)據(jù)質(zhì)量；2、提前將測(cè)試點(diǎn)位用半圓圈起，并將各點(diǎn)位直線連接以便測(cè)試時(shí)快速定位，具體請(qǐng)咨詢相關(guān)技術(shù)人員。
完成標(biāo)準(zhǔn)：儀器狀態(tài)良好，監(jiān)控標(biāo)樣測(cè)試值在允許誤差范圍內(nèi)。
方法描述：

24.1 EPMA方法說(shuō)明

儀器型號(hào)為日本電子（JEOL）JXA8230電流：1*10^-⁷A、電壓：20kV
束斑：根據(jù)面掃區(qū)域大小及圖像分辨率適當(dāng)選擇（分辨率＞256*256）
采樣時(shí)間：根據(jù)束斑及分辨率計(jì)算（≈2小時(shí)）
以上為常規(guī)測(cè)試條件，如需高精度面掃圖像可根據(jù)需求進(jìn)行調(diào)整。
硅酸鹽礦物各元素含量校正標(biāo)樣均為天然礦物，部分金屬及硫化物元素含量校正標(biāo)樣為純物質(zhì)：Au、Ag、Co、V，其余為天然礦物標(biāo)樣。