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Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM

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產(chǎn)品型號NanoFlip

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更新時(shí)間：2022-10-12 15:41:54瀏覽次數(shù)：230次

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上海納騰儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM

詳細(xì)介紹

NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試。NanoFlip可進(jìn)行硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試（CSM）、力學(xué)性能譜圖（Mapping）、納米動態(tài)力學(xué)分析（DMA）、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試，可同時(shí)將SEM圖像與力學(xué)測試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip還可以進(jìn)行快速壓痕測量，這是在惰性環(huán)境（如手套箱）中研究非均相材料的重要手段。