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ARL QUANTX能量色散X- 熒光光譜儀(EDXRF)

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產(chǎn)品型號(hào)ARL QUANTX

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更新時(shí)間：2023-03-14 09:55:07瀏覽次數(shù)：247次

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產(chǎn)品簡介

主要特點(diǎn)：ARLQuant’X熒光能譜儀具有廣泛的應(yīng)用如:ROHS-WEEE電子廢棄物中重元素分析,各種合金及貴金屬成分分析,環(huán)境污染氣溶膠的測度,考古文物保護(hù),刑偵痕量分析,營養(yǎng)品分析,磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體的薄膜渡層厚度分析,各種油品中成分分析,納米至微米鍍層厚度測量,土壤,催化劑,礦石,原材料等

詳細(xì)介紹

主要特點(diǎn)：

ARL Quant’X 熒光能譜儀
具有廣泛的應(yīng)用如:ROHS-WEEE電子廢棄物中重元素分析,各種合金及貴金屬成分分析,環(huán)境污染氣溶膠的測度, 考古文物保護(hù),刑偵痕量分析,營養(yǎng)品分析,磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體的薄膜渡層厚度分析,各種油品中成分分析,納米至微米鍍層厚度測量,土壤,催化劑,礦石,原材料等.

用于材料的無損分析可選擇液氮致冷或電致冷Si(Li) 探測器從氟至鈾的多元素分析測定的濃度范圍一般可以從ppm級(jí)至99% 技術(shù)參數(shù)

技術(shù)參數(shù)：

ARL Quant’X 熒光能譜儀
應(yīng)對(duì)RoHS指令 ――快速分析

超大Si(Li) 晶體，具有的痕量分析的靈敏度，打破lng的檢測限壁壘
全數(shù)字脈沖處理器技術(shù)，死時(shí)間達(dá)60%，以及優(yōu)異的峰背比
高級(jí)FP無標(biāo)樣分析軟件，進(jìn)行無標(biāo)樣分析，減少對(duì)標(biāo)樣的依賴性
高靈敏電制冷Si(Li) 探測器技術(shù), 儀器免維護(hù)和運(yùn)行
超大樣品室，可容納300mm*(乘號(hào))400mm的樣品
全自動(dòng)校準(zhǔn)，自動(dòng)監(jiān)測，自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)，計(jì)算機(jī)控制
鍍層和薄膜測量技術(shù), 具有無標(biāo)樣分析測厚技術(shù)

關(guān)鍵詞：能譜儀處理器報(bào)警系統(tǒng)