BXT-STA200同步熱分析儀差示熱重一體機DSC TGA STA
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上海能共實業(yè)有限公司
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產(chǎn)品型號BXT-DTA1250
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時間：2022-10-18 11:27:32瀏覽次數(shù)：252次
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差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關(guān)系。在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉(zhuǎn)變或反應(yīng)的吸熱或放熱效應(yīng)引起的。如：相轉(zhuǎn)變，熔化，結(jié)晶結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變，沸騰，升華，蒸發(fā)，脫氫反應(yīng)，斷裂或分解反應(yīng)，氧化或還原反應(yīng)，晶格結(jié)構(gòu)的破壞和其他化學反應(yīng)。
巴謝特BXT-DTA1250差熱分析儀
產(chǎn)品介紹:
差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關(guān)系。在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉(zhuǎn)變或反應(yīng)的吸熱或放熱效應(yīng)引起的。如：相轉(zhuǎn)變，熔化，結(jié)晶結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變，沸騰，升華，蒸發(fā)，脫氫反應(yīng)，斷裂或分解反應(yīng)，氧化或還原反應(yīng)，晶格結(jié)構(gòu)的破壞和其他化學反應(yīng)。
儀器特點：
1.儀器主控芯片采用Cortex-M3內(nèi)核ARM控制器，運算處理速度更快，溫度控制更jingque。
2.采用USB雙向通訊，操作更便捷。
3.采用7寸24bit色全彩LCD觸摸屏，界面更友好。
4.采用鎳鉻合金傳感器，更耐高溫、抗腐蝕、抗氧化。
技術(shù)參數(shù):
1.溫度范圍:室溫~1150℃
2.量程范圍: 0～±2000μV
3. DTA精度: 0.01μV
4.升溫速率: 1～80℃/min
5.溫度分辨率: 0.1℃
6.溫度準確度: ±0.1℃
7.溫度重復(fù)性: ±0.1℃
8.溫度控制:升溫：程序控制 可根據(jù)需要進行參數(shù)的調(diào)整
恒溫：程序控制 恒溫時間任意設(shè)定
9.爐體結(jié)構(gòu):爐體采用上開蓋式結(jié)構(gòu)，代替了傳統(tǒng)的升降爐體，精度高，易于操作
10.氣氛控制:內(nèi)部程序自動切換
11.數(shù)據(jù)接口:標準USB接口 配套數(shù)據(jù)線和操作軟件
12.顯示方式: 24bit色7寸LCD觸摸屏顯示
13.參數(shù)標準:配有標準物，帶有一鍵校準功能，用戶可自行對溫度進行校正
14.基線調(diào)整:用戶可通過基線的斜率和截距來調(diào)整基線
15.工作電源: AC 220V 50Hz
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