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723系列可見分光光度計(jì)

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更新時間：2022-12-30 10:41:54瀏覽次數(shù)：154次

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上海精密儀器儀表有限公司

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產(chǎn)品簡介

723系列可見分光光度計(jì)

詳細(xì)介紹

723型可見分光光度計(jì)儀器用途：

該儀器內(nèi)置微機(jī)，實(shí)現(xiàn)人機(jī)對話，操作簡單﹑功能完善，可以廣泛應(yīng)用于石油﹑化工﹑醫(yī)藥﹑環(huán)保﹑大專院校﹑材料科學(xué)等各個領(lǐng)域，是科研﹑生產(chǎn)﹑教學(xué)的分析測試儀器。

儀器特點(diǎn)和功能

※ 723型可見分光光度計(jì)采用低雜散光，高分辨率的單光束光路結(jié)構(gòu)。

※ 儀器具有良好的穩(wěn)定性、重現(xiàn)性。

※ 應(yīng)用新型微機(jī)處理技術(shù)，使操作更為簡便，能更快速地完成測試。

※ 具有自動調(diào)校0%T和99%T等控制功能。

※ 具有多種方法的數(shù)據(jù)處理功能。

※ LCD數(shù)字顯示器可顯示透射比、吸光度和濃度等參數(shù)以及波長讀數(shù)，提高了儀器的讀數(shù)準(zhǔn)確性。

※ 打印輸出，配有串行口，可直接連接打印機(jī)，打印實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。

※ 標(biāo)準(zhǔn)RS-232通訊接口(串口)，可通過用戶應(yīng)用軟件(需另購)和普通的裝有Windows系統(tǒng)的個人電腦聯(lián)機(jī)
可實(shí)現(xiàn)光度測量、光譜掃描、定量測試、時間掃描及數(shù)據(jù)處理等功能，使分析工作更理想。

儀器指標(biāo)

型號	723PCS型帶寬可變掃描型	723PC型掃描型	723C/7230G 單機(jī)版
光學(xué)系統(tǒng)	單光束，1200條/毫米衍射光柵
光譜帶寬	1、2、4、5 nm	4 nm
波長范圍	320-1100 nm
波長精度	±0.5 nm (帶寬2 nm)	±1 nm
波長重復(fù)性	≤0.2 nm	≤0.5 nm
波長可讀性	0.1 nm
透射比準(zhǔn)確度	±0.5%T
透射比重復(fù)性	≤0.2%T
雜散光	≤0.15%T	≤0.2%T	≤0.3%T
基線直線型	±0.004 A (帶寬2 nm)	±0.004 A	/
穩(wěn)定性	≤0.003 A / 30min / 500 nm (after 30min warmup)
測量范圍	0-125%T、-0.097-2.70 A、0-1999C、0-1999F
光源	進(jìn)口長壽命鎢燈12V/20 W
顯示	LCD (2*20 帶背光)
數(shù)據(jù)輸出	RS-232C
分析軟件	有		支持
檢測器	硅光二極管
比色皿架	10 mm (可以選配50 mm，100 mm)
比色皿	10mm / 4只
電源	AC 220V/ 50Hz
外形尺寸	440370200 mm
重量	14 kg

可選配附件:

※ 多用途轉(zhuǎn)換架 ※可調(diào)試微量吸收池架 ※ 100mm吸收池架 ※ 反射附件

※ 水域恒溫吸收池架 ※ 程控4槽位樣品架 ※ 8~22mm試管吸收池架

723PCSR型可見分光光度計(jì)產(chǎn)品介紹：

723PCSR除能實(shí)現(xiàn)光度計(jì)常規(guī)掃描等功能外，還可做剩余反射率測量，剩余反射率測量是采用比較測量的方法。即把鍍了增透膜的光學(xué)零件與已知反射率的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行比較，來確定增透膜的剩余反射率大小。廣泛應(yīng)用于檢測光學(xué)系統(tǒng)中各種鍍制增透膜的光學(xué)零件的剩余反射率和膜層的均勻性。以此來檢測光學(xué)鍍膜后的效果。

主要特點(diǎn)：
1. 寬大的樣品室，可容納10—100mm各種規(guī)格的比色皿；
2. 設(shè)計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)、高性能全息光柵和接收器確保儀器具有優(yōu)良的性能指標(biāo)；
3. 采用單機(jī)操作，線性回歸方程測量等；
4. 應(yīng)用微機(jī)處理技術(shù)使操作更為方便
5.波長，調(diào)零全自動，波長最小間隔0.1nm
6.配送2套上層軟件，
A透射測量覆蓋所有功能，光譜掃描、時間掃描、多波長測試、標(biāo)準(zhǔn)曲線測試等，并且使數(shù)據(jù)儲存達(dá)到無限。
B反射測量，剩余反射測量裝置及測量軟件。