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蘇州星源潔凈環(huán)境科技有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地蘇州市
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更新時間：2022-09-22 10:05:46瀏覽次數(shù)：190次
聯(lián)系我時，請告知來自 智能制造網(wǎng)詳細介紹飛行時間二次離子質(zhì)譜飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)
詳細介紹
飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)?？梢詮V泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素，分子等結(jié)構(gòu)信息。
技術(shù)參數(shù)：
. 并行探測所有離子，包括有機和無機分子碎片。
. 無限的質(zhì)量探測范圍（實際測量中大于1000m/z 原子量單位）。
. *透過率下實現(xiàn)高的質(zhì)量分辨率。
. 的橫向和縱向空間分辨率（橫向小于100納米，縱向小于1納米）。
. 探測靈敏度可達ppm或ppb量級。
. 質(zhì)量探測分辨率(M/ΔM) >1000
. 質(zhì)量探測準確度 ≥20 milli 質(zhì)量單位
. 反射性分析器
. 5 分鐘樣品腔真空度可從大氣環(huán)境達到真空工作環(huán)境
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