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俄歇電子能譜（AES測(cè)試）

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

儀器名稱：俄歇電子能譜（AES）型號(hào)：ThermoScientificEscalab250Xi檢測(cè)項(xiàng)目：1.能分析≥20nm直徑的異物成分，且異物的厚度不受限制（能達(dá)到單個(gè)原子層厚度，0.5nm）

詳細(xì)介紹

儀器名稱：	俄歇電子能譜（AES）	型號(hào)：	Thermo Scientific Escalab 250Xi
檢測(cè)項(xiàng)目：	1.能分析≥20nm直徑的異物成分，且異物的厚度不受限制（能達(dá)到單個(gè)原子層厚度，0.5nm）。 2.利用AES的深度濺射功能測(cè)試≥3nm膜厚厚度。 3.利用D-SIMS結(jié)合AES能準(zhǔn)確測(cè)定各層薄膜厚度及組成成分。
應(yīng)用范圍：	應(yīng)用于鑒定樣品表面的化學(xué)性質(zhì)及組成的分析，其特點(diǎn)在俄歇電子來極表面甚至單個(gè)原子層，僅帶出表面的化學(xué)信息，具有分析區(qū)域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料分析以及催化、吸附、腐蝕、磨損等方面的研究。
制樣要求：	1.樣品規(guī)格尺寸為1×1×0.5cm，當(dāng)樣品尺寸過大需切割取樣。 2.取樣的時(shí)候避免手和取樣工具接觸到需要測(cè)試的位置，取下樣品后使用真空包裝或其他能隔離外界環(huán)境的包裝，避免外來污染影響分析結(jié)果。 3.由于AES測(cè)試深度太淺，無法對(duì)樣品噴金后再測(cè)試，所以絕緣的樣品不能測(cè)試，只能測(cè)試導(dǎo)電性較好的樣品。 4.AES元素分析范圍Li-U，只能測(cè)試無機(jī)物質(zhì)，不能測(cè)試有機(jī)物物質(zhì)，檢出限0.1%。