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上海佑科掃描型紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)UV759CRT

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華威科創(chuàng)（武漢）科技有限公司

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上海佑科掃描型紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)UV759CRT；采用128*64位點(diǎn)陣液晶顯示器，可直接顯示標(biāo)準(zhǔn)曲線和測(cè)試數(shù)據(jù)，主機(jī)可存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，精確的2nm帶寬，使測(cè)試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確；

詳細(xì)介紹

上海佑科掃描型紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)UV759CRT的詳細(xì)資料：

掃描型紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) UV759CRT

儀器特點(diǎn)：
1. 采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統(tǒng)，使儀器光源切換更快速。
2. 精確的2nm帶寬，使測(cè)試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。使用進(jìn)口長(zhǎng)壽命光源，使儀器光源切換更快速。
3.*的波長(zhǎng)控制系統(tǒng)，使波長(zhǎng)精度更高。改良的光學(xué)系統(tǒng)，使測(cè)試更準(zhǔn)確。
4.采用進(jìn)口的光電轉(zhuǎn)換器，使儀器的靈敏度更高。
5.新型的微電腦數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，使儀器的使用更簡(jiǎn)便，穩(wěn)定性也很好。
6.儀器采用128*64位點(diǎn)陣液晶顯示器，可直接顯示標(biāo)準(zhǔn)曲線和測(cè)試數(shù)據(jù)，主機(jī)可存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，并可選配打印機(jī)；
UV759CRT型紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)在UV756的基礎(chǔ)上增加了全波段自動(dòng)掃描功能和連接微機(jī)功能。

掃描型紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) UV759CRT

儀器參數(shù)：
波長(zhǎng)范圍：190-1100nm
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.3nm
波長(zhǎng)重復(fù)性：0.1nm
光譜帶寬：1.8nm
透射比準(zhǔn)確度：±0.3%T
透射比重復(fù)性：0.1%T
透射比范圍：0.0-200%T
吸光度范圍：-0.30-3A
濃度顯示范圍：0-1999
基線平直度：±0.001A
雜散光：0.05%T@220nm、360nm
穩(wěn)定性：±0.001A/小時(shí) @500nm
Rs232通訊：USB接口
打印機(jī)：選配
分析軟件：選配