￥面議
儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司
免費(fèi)會(huì)員您現(xiàn)在的位置： 儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司>>微區(qū)電化學(xué)掃描顯微鏡>> M470第四代掃描探針系統(tǒng)
M470第四代掃描探針系統(tǒng)
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號
- 品牌
- 其他 廠商性質(zhì)
- 北京市 所在地
訪問次數(shù)：232更新時(shí)間：2022-04-01 09:29:55
聯(lián)系我們時(shí)請說明是智能制造網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
產(chǎn)品介紹
M470的平衡了高掃描率、高分辨率和高精度建立了解決空間電化學(xué)測量的新標(biāo)準(zhǔn)。
出色的性能:
快速精確的閉環(huán)定位系統(tǒng)為帶你花些掃描探針那墨跡研究的需求而特別設(shè)計(jì)。結(jié)合Uniscan堵車的混合型32-bitDAC技術(shù)，用戶可以選擇審核實(shí)驗(yàn)研究的優(yōu)異配置。
*、靈活的工作平臺:
系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù)，使得M470成為靈活的電弧寫掃描探針工作平臺。
M470 定位系統(tǒng):
超高分辨率掃描平臺允許更長的行進(jìn)距離
M470全新一代掃描平臺擠成了更高的分辨率、更長的行進(jìn)距離以及掃描速率。
交流掃描（ac-）和間歇接觸（ic-）掃描探針技術(shù)，提供壓電為在Z軸方便精確定位，以探表面形貌。
采用20-bitDAC控制壓電范圍以及控制定位到0.09nm，M470增強(qiáng)了重復(fù)性、加快了掃描速度、縮短了測試樣品時(shí)間，這使得M470可以應(yīng)用于非穩(wěn)態(tài)系統(tǒng)的研究。
M470產(chǎn)品特征：
? SECM 自動(dòng)處理曲線
? SECM用戶自定義處理曲線步長變化
? 高分辨讀取
? 手動(dòng)或自動(dòng)調(diào)節(jié)相位
? 傾斜校正
? X或Y曲線相減（5階多項(xiàng)式））
? 2D 或3D快速傅里葉變化
? 試驗(yàn)探針移動(dòng)和區(qū)域繪圖的自動(dòng)排序
? 圖形實(shí)驗(yàn)測序引擎（GESE）
? 支持多區(qū)域掃描
? 所有實(shí)驗(yàn)多個(gè)數(shù)據(jù)視圖
? 峰值分析
M470技術(shù)參數(shù)
工作站（所有技術(shù)）
掃描范圍（x,y,z） 大于100nm
掃描驅(qū)動(dòng)分辨率 0.1nm
閉環(huán)定位 線性零滯后編碼器，直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移
軸分辨率（x,y,z） 20nm
掃描速度 12.5mm/s
測量分辨率 32-bit@高達(dá)40MHz
壓電（ic-和ac-掃描探針技術(shù)）
振動(dòng)范圍 20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動(dòng)分辨率 0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展 100μm
定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機(jī)電
掃描前端 500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元 275×450×400mm(H×W×D)
功率 250W
相關(guān)產(chǎn)品
