PLD-MPCS2.0電子半導體圖像法顆粒度分析系統(tǒng)
￥500000
西安市碑林區(qū)中儀啟經(jīng)銷部
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PLD-MPCS2.0電子半導體圖像法顆粒度分析系統(tǒng)
| 參考價: | ￥ 500000 |
| 訂貨量: | 1 臺 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- PLD-MPCS2.0 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：316更新時間：2022-05-10 13:46:28
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產(chǎn)品簡介
觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑比分布等，為科研、生產(chǎn)領域增添了一種新的粒度測試手段；
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品簡介：
電子半導體圖像法顆粒度分析系統(tǒng)為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光學顯微鏡、圖像測試 CCD 攝像頭、三維立體載物平臺、圖像法顆粒分析系統(tǒng)軟件、電腦、打印機等部分組成；為科研、生產(chǎn)領域增添了一種新的粒度測試手段。
產(chǎn)品優(yōu)勢：
電子半導體圖像法顆粒度分析系統(tǒng)測試軟件具有審計追蹤、權限管控、電子記錄、測試標準、計量驗證、報告模板、圖像存儲、顆粒追蹤、報告輸出、清潔度分析等功能；
全面自動標準選擇、顆粒尺寸設定、顆粒計數(shù)，或按用戶設定范圍計數(shù)，自動顯示分析結(jié)果，并按照相關標準確定產(chǎn)品等級；
專用數(shù)字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動膜片掃描系統(tǒng)，無縫拼接，數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng)；
R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；
顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進行處理與分析；
引入3D遙感三維調(diào)控技術，快速定位，快速聚焦，體驗極速無卡頓測試。
顯示器及打印機輸出分析結(jié)果；
直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統(tǒng)計、自動標定等特點；
避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴展檢測范圍；
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