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　　恒溫晶體振蕩器簡稱恒溫晶振，英文簡稱為OCXO(Oven Controlled Crystal Oscillator)。詳解恒溫晶振的調(diào)試：

　　1)每一個單獨指標必須單獨測試，不能同時測試幾種指標，也不能同時測試幾只晶振。

　　2)測試時要嚴格按照標準的測試電路和測試環(huán)境進行測試。

　　3)在沒有相當?shù)臏y試設備和測試人員的情況下，不建議客戶自行測試晶振，更不能隨意調(diào)試晶振，測試設備的等級應至少比晶振指標高一個數(shù)量級。

　　4)對不同廠家的產(chǎn)品，尤其是來自不同國家的產(chǎn)品，有一些指標的測試方法不盡相同，應提前了解各廠家的異同點，統(tǒng)一意見，以減少不必要的麻煩。

　　5)對一些短期指標如頻率精度，開機特性等，應多做幾次重復的測試，以減少測試結(jié)果的偶然性。

　　一般的晶振的負載電容為15p或12.5p ，如果再考慮元件引腳的等效輸入電容，則兩個22p的電容構(gòu)成晶振的振蕩電路就是比較好的選擇

　　如何防止晶振出現(xiàn)不良現(xiàn)象，現(xiàn)在介紹嚴格按照技術要求的規(guī)定，對晶振組件進行檢漏試驗以檢查其密封性，具體如下：

　　1、壓封工序是將調(diào)好的諧振件在保護中與外殼封裝起來，以穩(wěn)定石英晶體諧振器的電氣性能。在此工序應保持送料倉、壓封倉和出料倉干凈，壓封倉要連續(xù)沖，并在壓封過程中注意焊頭磨損情況及模具位置，電壓、氣壓和流量是否正常，否則及時處理。其質(zhì)量標準為：無傷痕、毛刺、頂坑、彎腿，壓印對稱不可歪斜。

　　2、由于石英晶體是被動組件，它是由IC提供適當?shù)募罟β识９ぷ鞯?，因此，當激勵功率過低時，石英晶振不易起振，過高時，便形成過激勵，使石英芯片破損，引起停振。所以，應提供適當?shù)募罟β?。另外，有功負載會消耗一定的功率，從而降低晶體Q值，從而使晶體的穩(wěn)定性下降，容易受周邊有源組件影響，處于不穩(wěn)定狀態(tài)，出現(xiàn)時振時不振現(xiàn)象，所以，外加有功負載時，應匹配一個比較合適有功負載。

　　3、控制好剪腳和焊錫工序，并保證基座絕緣性能和引腳質(zhì)量，引腳鍍層光亮均勻無麻面，無變形、裂痕、變色、劃傷、污跡及鍍層剝落。為了更好地防止單漏，可以在晶體下加一個絕緣墊片。

　　4、當晶體產(chǎn)生頻率漂移而且超出頻差范圍時，應檢查是否匹配了合適的負載電容，可以通過調(diào)節(jié)晶體的負載電容來解決。

　　隨著電視技術的發(fā)展，近 來 彩電多采用500kHz或503kHz的晶體振蕩器作為行、場電路的振蕩源，經(jīng)1/3的分頻得到15625Hz的行頻，其穩(wěn)定性和可靠性大為提高。而且晶振價格便宜，更換容易。