產(chǎn)品簡介

PIND檢測技術(shù)原理

顆粒碰撞噪聲檢測（Particle Impact Noise Detection，PIND）試驗是一種多余物檢驗的有效手段.其原理是利用振動臺產(chǎn)生一系列的機械沖擊和振動，通過沖擊使被束縛在產(chǎn)品中的顆粒（即多余物）松動，再通過一定頻率的振動，使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移?；顒佣嘤辔镌诋a(chǎn)品中發(fā)生位移的過程，是多余物相對產(chǎn)品殼體的滑動過程和撞擊過程的一個隨機組合過程。

在這個過程中，將產(chǎn)生應(yīng)力彈性波和聲波。兩種波在產(chǎn)品殼體中傳播，并形成混響信號，這個混響信號被定義為位移信號。采用壓電傳感器拾取到位移信號后，經(jīng)前置放大器放大后，位移信號由檢測裝置的主機采集、處理并顯示。檢測人員可以依據(jù)顯示的信號波形判定出信號性質(zhì)，以此得出檢測結(jié)論。

選型說明

每種型號的顆粒碰撞噪聲檢測儀都包括 :控制器,振動臺,傳感器, 靈敏度測試單元,軟件, 示波器, 電纜, 耗材, 及相關(guān)文件.其型號選擇主要根據(jù)被測件的重量和外型尺寸而定,我們的標準配置采用的是M230振動臺可測負載重量,全頻率范圍內(nèi)為400克,換能器臺面直徑為22mm~150mm,換能器因在其中心區(qū)域50%面積處靈敏度zui高,故實際臺面選擇時換能器面積要略大于被測件zui大扁平面面積.

設(shè)備用途

用于電子元器件封裝后,對器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測試驗,目的在于檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實驗. 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。

適用范圍

用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒.

PIND技術(shù)參數(shù)

振動規(guī)格：

頻率范圍：25 至250Hz, 正弦曲線

其他振動模式：隨機極限，75 至400Hz平坦頻率

自動階型頻率，40至250Hz

低頻率程序：zui大振幅保護隨頻率變化

頻率分辨率:1Hz

時間 :每個程序0.1至25.5秒

時間程序分辨率:0.1秒

振幅:0.1至25.50’G’峰值，4位數(shù)顯

振幅程序分辨率:0.1’G’

重復(fù)性:0.5’G’峰值，帶反饋控制

D.U.T.載荷:zui大350g(整個范圍)

zui大400g在60Hz

沖擊規(guī)格：

方法:沖擊臺反饋控制

自適應(yīng)D.U.T.載荷沖擊

振幅:100至2500’G’可編程

程序分辨率:10’G’

重復(fù)性:50’G’內(nèi)

脈沖寬度:<100微秒在50%振幅下

典型的是150-200微秒在10%振幅下

沖擊延遲:沖擊脈沖下降沿時間，從25至250微秒

D.U.T.載荷:振幅隨負載輕微下降

zui大能力500克在1000g振幅下

 (可能需要改變程序值來加大載荷)

zui大載荷規(guī)格：

振動臺極限:800克

振動極限:400克W/傳感器

沖擊極限:500克（可能需要增加程序值） 

電氣規(guī)格：

電源:100,120,220,240VAC+/-10% at 50 or 60 Hz可選

功耗:zui大300瓦

額定功率放大:zui大動態(tài)加載100w RMS